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출석확인
학습분위기 유도
및 동기유발
전시학습확인
학습목표
▶ 인사 및 출결 확인
▶ “요즘 휴대폰시장에서는 고객유치를 위해 다양한 폰이 많이 선보이고 있습니다.
여러분은 어떤기능의 휴대폰을 우선적으로 구입하시겠습니까?
▶
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, 주의를 더 산만하게 할 수도 있다. 그러므로 이를 활용하되, 너무 의존한 수업전개는 가급적 지양한다. Ⅰ. 교과 개관 -------------------------- 2
Ⅱ. 본시 학습 단원 ---------------------- 3
Ⅲ. 본시 교수(디지털 논리회로) 학습 지도안 --- 5
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논리 수준을 논리 분석기나 논리 스코프에 필요한 장비 없이 바로 읽어낼 수 있도록 고안된 논리 시험 기구이다.
3) 브레드 보드(또는 디지털 실험 장치)
속칭 빵판 또는 빵틀로 전자회로의 시제품을 만드는 데 사용하고 재사용할 수 있는 무땜
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1. 2개의 D플립플롭으로 구성된 순서논리회로의 입력방정식이 다음과 같을 때 상태표, 상태도, 논리회로도를 작성하시오(단, X, Y는 입력이고 Z는 출력이다.) ※교재 6장(주관식문제 3번-교재 p254)
※교재 7장(주관식문제 6번-교재 p299)
※교
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회로(인버터 : Inverter)
6. NOR(NOT + OR)게이트 회로
7. LOGIC 테스터 제작
8. Gate IC의 호환
9. 풀업저항과 풀다운저항
10. 게이트회로의 단자 처리 방법
11. 오픈콜렉터(Open Collector)
(1) 논리 펄스 발생기
(2) 논리(Logic) 시험기
(3) 전자 자물쇠
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따라 조금씩 부식이 일어날 수도 있기 때문에 내가 사용했던 브래드 보드 역시 이론에 가까운 완벽한 상태가 아니었을 가능성이 크기 때문에, 오차가 발생했을 가능성 또한 크다고 생각한다. 1. 회로도
2. 이론값
3. 실험결과
4. 결과분석
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논리 0은 접지에 직접 연결하라. 표 4-2에 논리 출력과 측정된 전압을 기록하라. 출력 전압 측정에는 디지털 멀티미터를 사용하라.
2. NOR 게이트 하나에 대해서도 실험 순서 1을 반복하고 결과를 표 4-3에 기록하라.
3. 그림 4-4와 그림 4-5의 회로를
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회로를 구성하는 것이다.
② 드모르간의 제 2 법칙()은 NAND 게이트를 bubbled OR 게이트로 대체할 수 있음을 보인다.
- 그러므로 Fig. 15-1d를 Fig. 15-2a로 대체할 수 있다.
③ 디지털 시스템에서는 일반적으로 각 변수와 그의 보수(complement)들을 모두
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논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
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대체하기도 하면서 디지털 신호의 1 비트에 해당하는 정보를 기억할 수 있다. 이 회로가 모여서 더 큰 용량의 정보를 저장하는 메모리의 역할을 수행하게 된다.
논리 게이트를 사용하여 입력된 신호의 판단만이 가능한 것으로 알고 있었는데,
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