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논리회로및컴퓨터구조실험, 홍진
전희종 외(2007) 디지털시스템, 문운당
진경시 외(2000) 디지털 공학, 기전연구사
e비즈니스시대의 경영정보시스템, 방송통신대학교, 2005
Philip Miller, 마스터링 TCP/IP 응용편, 성인당, 2005
네이버 지식백과, IT용어
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디지털 공학, 기전연구사, 2000.
5. 이상문, 첨단경영정보론 : 디지털 융합과 신지식 창조, 형성출판사, 2006.
6. 김광남 외 3명, 정보화 사회의 경영학, 한올출판사, 2000.
7. 김종현. 컴퓨터구조론. 생능, 2003.
8. 정병태 외, 논리회로및컴퓨터구조실험
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논리회로및컴퓨터구조실험, 홍진
전희종 외(2007) 디지털시스템, 문운당
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1. 실험의 목적
⑴. 드-모르간의 정리를 실험적으로 증명하고, 논리회로의 간략화를 보인다.
⑵. 7-Segment의 원리와 숫자 표시기의 사용방법을 익힌다.
2. 사용기기 및 부품
∙디지털 실험장치 (Digital Experiment System)
∙TTL 7400 (quad 2-input NA
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기말 텀프로젝트로 만든것입니다.
여타 레포트 싸이트에서 받는 자료는 대부분 VHDL을 이용한 것인데
이것은 블록 다이어그램을 이용한 회로 구성 파일들을 통째로 압축했습니다.
알람/달력/초시계/오전오후기능이 모두 가능합니다.
모듈
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논리회로
조합 논리 회로는 논리곱, 논리합, 논리 부정의 세 가지 기본 논리 회로를 조합하여 구성한 논리 회로로, 입력, 논리 게이트, 출력으로 구성되며, 입력된 정보에 대해서 새로운 출력 정보를 제공하는 기능을 갖는 회로이다. 컴퓨터 내
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디지털 신호의 1 비트에 해당하는 정보를 기억할 수 있다. 이 회로가 모여서 더 큰 용량의 정보를 저장하는 메모리의 역할을 수행하게 된다.
논리 게이트를 사용하여 입력된 신호의 판단만이 가능한 것으로 알고 있었는데, 간단한 피드백 회
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논리합으로 둘 중 하나라는 식으로 동작하는데, 두 개의 입력 중 홀수개의 1이 입력이 된 경우 출력이 1, 짝수 개의 1또는 0이 입력된 경우 출력이 0이다.
3. 참고문헌
1) 논리회로, 임황빈, 2011
2) 디지털공학개론, 평생교육원 1.5가지 Standard
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논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
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