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회로도 및 결과
실험 1)
시뮬레이션 결과
- 아무것도 나타나지 않는다.
- 74LS47의 4번 핀과 5번 핀이 VCC에 연결되어 있지 않고, 독립적으로 연결되어 있기 때문이라고 예측한다. 정확한 실험 결과는 실험 수업 때 확인해 볼 예정이다.
실험 2)
※ RU
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따라 조금씩 부식이 일어날 수도 있기 때문에 내가 사용했던 브래드 보드 역시 이론에 가까운 완벽한 상태가 아니었을 가능성이 크기 때문에, 오차가 발생했을 가능성 또한 크다고 생각한다. 1. 회로도
2. 이론값
3. 실험결과
4. 결과분석
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회로의 구성방법과 LED,7404인버터의 내부구조와 역할에 대해 알수있었으며 추가적으로 브레드보드의 사용법과 오실로스코프 디지털 멀티미터를 겸용해서 사용법을 익히는 유익하고 도움이 되는 실험이었다. 논리프로브구성
실험결과
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인버터로부터 게이트된(gated) D래치를 구성과 테스트를 하는 실험이다
이번실험은 실험은 생각보다 해야할 분량도 많았고 솔직히 latch라는 회로가 좀 어려웠다.
기존실험처럼 단순히 * + > = 등 비교 덧셈 곱셈등 단순 산술이아니라 유지시키
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회로 모델
Boundary scan은 IEEE1149.1에 표준화 되어 있음.
그림 2.5.6 경계 주사
그림 2.5.7 BIST 기법이 사용된 ASIC Chapter 2
집적회로(VLSI)의 설계 과정
2.1 상위 레벨 합성(High Level Synthesis)
2.2 논리 합성(Logic Synthesis)
2.3 레이아웃 합성(Layout Synthe
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설계목표
2.1 자판기 설계 목표..............................................4
2.2 자판기 설계 조건..............................................5
3 설계내용
3.1 자판기 회로 동작 조건정의 (모듈, 입출력변수, 매개변수)..........5
3.2 자판기 회로 상태도...........
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디지털 시스템의 IC 주변에서 일어날 수 있는 결함
디지털 IC의 내부 결함
① IC 내부 회로의 기능 결함(function defect)
② IC 입력 또는 출력이 전원 또는 접지 사이에 단락(short)
③ IC 입력 또는 출력이 개방(open)
④ 핀과 핀 사이의 단락(전원과 접
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회로를 구성하는데 많은 애로사항이 발생하였다. 시뮬레이션에서 정상 동작하던 회로가 막상 회로로 옮겼을 때는 작동하지 않는 경우도 있었으며 +전압과 -전압 그리고 Ground가 같이 있다 보니 설계 및 납땜 작업 중에 간간히 감전도 일어났다
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설계과목 : 디지털공학실험
설계수행자
설계과제제목
주 별 설계진행 일정
공 학 이 론
설계구성요소
설계주안점
현실적제한요소
VHDL로 순차회로(검출기) 설계 코딩
벡터를 이용한 순차회로 설계
벡터를 이용하지 않은 순
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open collector 타입출력내압:15V 6과 9의 표시관련:74247
SN74HC04
Hex Inverters
+5V
인버터 회로가 6개
SN74LS90
DecadeCounter
+5V
비동기 2진+5진 카운터비동기 프리셋 9 비동기 클리어관련 74290 74390
SN74HC390
Dual DecadeCounters
+5V
SN7490을 2회로 내장한 타입 단, 프리
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