마이크로 스코프

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전문지식 15건

	FIB (Focus Ion Beam) 에 관한조사 6 SEM(Secondary Electron Microscope)의 개요-------- 7 - SEM의 원리 ----------------------------------------- 8 - 선원(線源) -------------------------------------------9 TEM(Transmission Electron Microscope)의 개요----- 10 - 초고압전자 현미경(超高壓電子顯微鏡)------------- 11 FIB SEM, Ion Beam TEM, FIB (Focus Ion Beam) 에 관한조사,	페이지 9페이지 가격 1,000원 등록일 2007.05.30 파일종류 피피티(ppt) 참고문헌 없음 최근 2주 판매 이력 없음
	경도경도(Hardness)측정 시험 마이크로 스코프로 0.01mm의 단위까지 측정한다. KSB080에서는 식 1에서 구할 HB(Kg/mm2)을 브리넬 경도라고 하며, 단위를 붙이지 않고 않고 나타내는 것으로 하고 있다. 경도측정 1. Abstract(초록) 2. Introduction(서론) 3.Theoretical Background(이론 경도측정, 경도경도(Hardness)측정 시험,	페이지 3페이지 가격 900원 등록일 2011.04.16 파일종류 한글(hwp) 참고문헌 없음 최근 2주 판매 이력 없음
	경도측정 제거하고, 시편의 압입자국의 직경 d를 마이크로 스코프로 0.01mm의 단위까지 측정한다. KSB080에서는 식 1에서 구할 HB(Kg/mm2)을 브리넬 경도라고 하며, 단위를 붙이지 않고 않고 나타내는 것으로 하고 있다. (초록) (서론) (이론적 배경) 경도측정, Abstract(초록), Theoretical Background(이론적 배경), 경도측정 Abstract(초록), 경도측정,	페이지 3페이지 가격 800원 등록일 2008.12.01 파일종류 한글(hwp) 참고문헌 없음 최근 2주 판매 이력 없음
	경도시험 결과 레포트 마이크로 스코프로 0.01㎜단위까지 측정한다 2. 관련이론 유의사항 - HB 450 이하의 경우에 강구 누르개를 사용하고, 이 이상의 경한 시험재에 대해서는 초경합금구를 사용한다 - 시험편의 표면은 압입된 자국의 지름을 0.01㎜까지 읽을 수 경도 비커스, 브리넬 로크웰, 경도시험 결과 레포트,	페이지 15페이지 가격 2,300원 등록일 2006.12.15 파일종류 피피티(ppt) 참고문헌 없음 최근 2주 판매 이력 없음
	[전자회로실험] AVR을 이용한 DC전압, 전류 측정 Micro Controller Unit) 2. ATmega128의 외부 구조 3. ATmega128의 특징 4. UST-MBP- ATmega128 모듈 Ⅳ. A/D컨버터 1. ADC특징 2. 전압계 3. 전류계 Ⅴ. LCD모듈 1. AM-TLCD 개요 2. AM-TLCD H/W 구성 (1) 하드웨어 구성도 (2) 커넥터 연결 (3) 컨트롤 AVR DC전류, DC전압 전압측정, [전자회로실험] AVR을 이용한 DC전압, 전류 측정,	페이지 11페이지 가격 2,000원 등록일 2008.12.03 파일종류 한글(hwp) 참고문헌 있음 최근 2주 판매 이력 없음