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실험이다. 각 베이스 전류에 대해 VCE를 변화시키며 IC를 관찰한다. 회로 연결은 옆과 같다. 베타 측정 실험 회로에서 컬렉터에 연결된 저항들을 제외한 것과 동일한 회로이다.
1. CH1 DC 1.5V, CH2 DC 0V인 상태에서 5kΩ 가변저항을 조절하여 베이스
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실험방법
<실험 부품 및 장비>
DC Power Source, Multimeter, 1kΩ 저항, 10kΩ 저항, 0.1uF 커패시터, HEF4007UB
<실험 과정 - Vt 측정>
1. HEF4007UBP를 이용하여 옆의 회로를 꾸민다.
2. VDD를 10V로 고정시킨 후 VGG를 조절하여 VGS를 0V부터 5V까지 0.4V씩 증가
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실험
① 연산 증폭기의 이득
위는 pspice 회로도이다.
왼쪽 그래프는 OFFSET을 3V, AMPL를 500mV 주었을 때의 시뮬레이션 결과이다. (실제 실험에서는 점진적으로 증가시키나 동작 성향을 파악하기 위해서 고정값을 설정하였다)
RR과 RF의 비가 1:1이므
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1N4154 또는 대치품
기타 : SPST 스위치, 5000Ω 2W 전위차계
<실험 과정>
<바이어스 안정화>
1. 오른쪽과 같이 회로를 구성한다.
2. S1을 닫고, 컬렉터 회로의 전류 IC를 측정하여 기록한다. VBE, VE, VCE도 측정하여 기록한 후 IE를 계산한다.
3. 음
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실험의 경우 시뮬레이션 결과에서 도출할 수 있는 AV값이 1 이하가 나왔다. 이는, 증폭기의 설계 의도에 맞지 않는 결과이다. (출력 전압이 입력 전압에 비해 오히려 적으므로) 대체한 MOSFET의 문제인지, 회로 설계의 문제인지 등의 원인 발견을
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f 주파수 주변의 주파수는 LPF와 HPF에 의해서 각각 걸러지게된다. 1. 실험 목적
2. 사용기기 및 부품
3. 실험 내용 및 결과
A. 공간에 존재하는 잡음
B. 전원에 존재하는 잡음
C. 잡음의 유입방지
D. 잡음의 제거
4. 연습 문제
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회로가 주어진 설계 목적을 만족하는지 살펴본다.
(5) 제어 입력에 따른 출력 회전 속도를 10회 이상 측정하고 오차를 계산한다.
[주의 : DC 모터 제어부와 측정부에 별도의 전원을 공급하는 것이 안정적인 동작을 보장함] 1. 실험 목적
2.
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정류전압이 90[V]인 전파정류기의 출력평균전압을 구하여라.
(7) 브리지정류기의 출력평균전압이 50[V]일 때 다이오드의 PIV 정격을 구하여라.
5.실험장비 및 부품
(1) 오실로스코프 : 1대
(2) 교류전압공급장치 : 1대
(3) 회로시험기 1대
(4) 전력용
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실험은 브릿지 방식으로 전파 정류이다.
회로는 좀 더 복잡해졌지만 뛰어난 정류특성을 보여준다. 그리고 다섯번째 실험과 비교되는데 이는 다섯번째 실험에서는 한 다이오드가 순방향이면 다른 다이오드는 역방향이되고 출력 전압은 저항
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실험 목적
(1) RL회로에서 인가전압 V와 전류 I의 위상각 를 측정한다.
(2) 인가전압 V, 저항에 걸린 전압 , 인덕터에 걸린 전압 의 다음과 같은 관계를 실험적으로 확인한다.
2. 관련이론
◈ 페이저
페이저는 크기와 방향으로 표시하며 전자공학에
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