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실험해보니 어렵게 느껴졌던, 키르히호프의 법칙들도 기억에 남고 뜻깊은 실험이었다.
8. 참고 문헌
‘기계공학실험’ :방광현.조종래.최형식.도덕희 - 2006.03
9. 부록
멀티테스터기의 종류
< 아날로그 멀티테스터기 > < 디지털 멀티테스
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+L2
L1+L2+L3
이론값
실측값
이론값
실측값
LT (uH)
99.001
99.007
98.714
98.72
실험3) RL 시정수를 구하고 전류의 변화를 그래프로 나타낸다.
T = 0.099/100sec
T(시정수 time constant) = 0.00099sec = 990us
* 고찰
- 저희 조는 이번 실험에서 인덕터를 직렬 또는 병렬로
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실험실에서의 측정은 주기적인 신호로 하는 이유는 무엇인가?
- 주기적이지 않고 불규칙적인 파형을 사용하게 된다면, 오실로스코프 등을 이용하여 동기를 할때에 상당히 어려움이 있기 때문이다. 오실로스코프와 신호발생기
1. 실험
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실험실 http://imal.cnu.ac.kr
-서울대학교 컴퓨터 전자공학부 nml.snu.ac.kr
-목원대학교 전자공학과 홈페이지
-<박막 프로세스의 기초> ,김원찬 저 ,피어슨에듀코리아, 2000년 1.박막공정
1.1. 박막공정의 정의
1.2. 박막공정의 과정
2. 세척
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실험 장비 및 도구 사용법
(1) 실험의 목표
1) 전자전기공학 실험에서 사용하는 기본 실험 도구를 사용할 수 있다.
2) 빵판(bread board)의 기능, 구조 및 사용법을 설명할 수 있다.
3) 전자전기공학 실험용 납땜을 수행할 수 있다.
4) 도통 테스터
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전자공학이다. 앞으로 전자와 기계는 서로 분리될 수 없는 분야가 될 것이다. 만약 둘 중하나라도 설계에서 문제가 있다면 당연히 제대로 작동하지 않을 것이다. 1. RLC회로의 배경지식
2. 실험 용어 조사
3. 실험 결과
4. 실험결과 관찰
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전자공학개론, Giorgio Rizzoni지음, Mc Graw Hill 출판
-회로이론, Hayt지음, 강철호 역, Mc Graw Hill 출판
-대학 물리학, 청문각 출판 1. 실험 목적
2. 실험 순서
3. 이론적 배경
1) JFET (junction field effect transistor) - 접합 전기장 효과 트랜지스터
2)
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전자공학개론, Giorgio Rizzoni지음, Mc Graw Hill 출판
-회로이론, Hayt지음, 강철호 역, Mc Graw Hill 출판
-대학 물리학, 청문각 출판 1. 실험 목적
2. 실험 순서
3. 이론적 배경
1) 다이오드
2) 정류회로
4. 실험 결과
1) 반파 정류 회로
2) 브릿지
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전자공학개론, Giorgio Rizzoni지음, Mc Graw Hill 출판
-회로이론, Hayt지음, 강철호 역, Mc Graw Hill 출판
-대학 물리학, 청문각 출판 1. 실험 제목
2. 실험 목적
3. 실험 순서
4. 실험에 사용된 원리 정리
1) 디지털 논리 회로인 and, or, not, xor게이
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않는 주파수를 분리하는 것.
출처: NAVER 백과사전
전지전자공학의 길라잡이(신윤기 저)
계측 및 제어 실험(강봉수 저) 1. 목적
2. 장치 및 기구
3. 이론
4. 일상생활에서 쓰이는 R-L-C회로의 예
5. 실험방법
6. 결과 값
7. 토의
8 .참고문헌
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