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1. 실험 장비
① 디지털 멀티미터
② 저항(??? ??? ??? ??)
③ 프로브팁, 악어입 클립
④ 직류 전원 장치
⑤ 연결선
⑥ 브레드보드
⑦ 가변저항
2. 실험 내용 및 방법
(1) 전체 직렬 연결 후 합성 저항 측정
실제 직렬로 연결된 합성 저항
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시키면서 출력 전류-전압 특성을 관측하여 기록하라.
(5) 위 실험을 입력이 개방된 상태에서 반복하여 기록하라.
(6) <그림 12>와 같이 회로를 구성하고 가변저항을 변화시키면서 전류-전압 특성을 관측하여 기록하라.
(7) <그림 13>의 두
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실험 내용
A. SR latch
(1) <그림 8>의 회로를 구성하라.
(2) 입력 S와 R의 조합을 통해 진리표를 완성한다. 표의 상태 행에서 set, reset, last Q, ambiguous 등으로 구분하여 기입한다.
(3) SR latch의 동작을 시간도표로 나타내고, 특히, S=R=1에서 S=R=0상태
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실험회로 4
1>
W
X
Y
Z
F
clock
0
0
0
0
0
0
1
0
0
1
0
0
0
1
1
1
1
0
0
0
1
0
1
0
1
1
0
0
1
1
1
bar { W }
2>
그림 4_1
F=( bar { W } + bar { X) } CDOT (Y CDOT Z)
= bar { W } CDOT Y CDOT Z+ bar { X } CDOT Y CDOT Z
그림 4_2
그림 4_3
부울대수 중에서 매우 중요한 법칙중의 하나인 드모르
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실험으로 직병렬 회로에서 전체 등가저항을 구하는 방법에 대해 배울수 있는 좋은 기회였다. 1. 실험 결과
표 5-1. 저항기의 저항값 측정
표 5-2. 같은 저항값을 저항기의 직병렬 연결
표 5-3. 서로 다른 저항기의 직병렬 연결
표 5-4. 직-병
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회로가 나오면 뭐가 더 큰지 일일이 계산을 했어야 했는데 이번 실험을 통해서 그 사실을 눈으로 확인을 해서 더욱더 기억에 남을거 같다. 1. 실험 결과
표 8-1. 직렬저항회로의 소비전력 계산
표8-2. 직병렬 저항회로의 소비전력 계산
2.
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불평형 상태에서 받는 충격을 다소 방지하게 된다. 전기전자기초실험 결과 레포트
2. 전기회로 기본원리 II
▶▶ 테브난, 노턴 등가회로
※ 실험결과
▶▶ 최대 전력 전달 조건
※ 실험결과
▶▶ 평형 브릿지 회로
※ 실험결과
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실험 환경을 고려해 볼 때 이것은 실험상 허용 가능한 오차로 봐도 될 것 같다. 이로서 실험을 통하여 RC회로를 이해하였고, 차단주파수를 알 수 있었으며, 이를 위해서 함수발생기와 오실로스코프등의 실험 장비 사용법을 습득할 수 있었다.&n
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사용이유를 실험한 적이 있는데 BUFFER는 일반적으로 신호의 증폭이나 BOUNCE 현상을 제거하기 위해 쓰인다. 따라서 위 회로에 쓰인 CMOS BUFFER또한 같은 이유이다. CMOS는 TTL에 비해 동적 안전성이 부족하다. 이 점을 보완하기 위한 것이다.
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실험을 하는 도중 다이오드를 연결한 브릿지나 회로를 잘못 구성하여 생긴 실수라고 볼 수 있다. 이 때문에 실험결과치가 이론으로 배웠던 값과 다르게 나온 것을 볼 수 있다.
6. 참고
<김상배 저, 개정판 기초전기전자실험, 홍릉과학출판사&
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