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대각선길이에서 겉넓이를 산출하여 하중을 이 넓이로 나눈 몫으로 나타낸다.
<참고문헌>
- 고고자료분석법 / 타구치 이사무, 사이토 츠토무 / 서경문화사 / 2007
- 문화재를 연구하는 과학의 눈 / 히라오 요시미츠 / 학연문화사 / 2001
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에너지 상태를 조밀하게 가지고 있는 복잡한 분자 등이 들뜨는 경우에 생긴다. EL 스펙트럼은 비양자화된 운동에너지를 갖는 입자가 에너지 변화를 할 때에도 나타난다. 연속 스펙트럼은 분광광도법 분석에서 시료물질에 복사선을 작용시킬
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주사형 전자현미경등으로 검사할 수 있다. MBE법 등으로 초격자를 작성하는 경우에는 진공을 파괴하지 않고 그 자리에서 오제전자 분광법(AES)이나 광전자 X선 붐광법(XPS), 반사 고속전자 회절등으로 박막을 검사한다.
● 스퍼터링(sputtering)
텅
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발생 장치의 작동원리
4. 연속 X선 원리
5. 특성 X-선 원리 (형광 X-선)
Ⅱ . X-선의 문화재에 대한 활용
1. X선 투과조사(X-ray Radiography)
2. X선 형광 분석
3. X선 회절분석
4. 주사전자현미경 분석
5. ICP발광분석법
Ⅲ. 결론
Ⅳ. 참고 문헌
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전자부품에서 오염물 확인 등에 이용
참고 문헌 및 참고 사이트
- 기기분석의 원리, 2000, Douglas A. Skoog지음, 박기채 옮김, 자유아카데미
- 분석화학 기기분석, 2000, 최재성, 동화기술
- 기기분석(완전개정판), 1983, 이대운, 대한교과서
- http://www1.s
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