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파형의 재생, 입력 펄스 확장, 바운스 없는 스위치 등의 용도에 사용된다. 일반적으로 실험회로에서는 IC 내부의 블록인 OP amp나 플립플롭, 저항 등은 나타내지 않으며 다만 그림 9-5와 같이 IC와 외부소자의 연결만을 나타낸다.
그림 9-4. 단안정
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⇒~(~(~(~A~B))(~(AB))))
즉 ~A와 ~B의 NAND연산과 A와 B의 NAND연산을 NAND연산으로 한 다음 NOT 연 산으로 처리했다고 볼 수 있다. ~A를 얻는 방법은 NAND의 입력단자 둘을 모두 A단자에 연결시키면 된다. ~B도 같은 방법으로 얻는다. 마지막은 NOT연산이지만
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2. 결과 분석
이번 실험은 OP-AMP의 특성을 이용하여 비교기를 구성해 본 실험이었다. 실험간 오차가 크게 발생한 부분은 없었다. 하지만 오차가 작다고 할 수 없는 부분도 있었기에 오차의 원인에 대해 분석해보자.
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. 이러한 관계를 총체적으로 트랜지스터의 특성곡선이라고 한다. 트랜지스터 제조 회사는 규격서에 트랜지스터 특성곡선을 제공한다. 이러한 특성곡선을 실험으로 측정하여 규격서에 발표된 값과 비교하는 것이 이 실험의 목적중 하나이다.
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실험에서 회로의 저항값은 표1-1에서와 같이 감소됨을 알수 있다. 이론상에서의 Si 다이오드의 0.7V와 비슷한 결과를 보이는 것을 실험에서 확인 할 수 있다. 예비 보고서
■Review questions
◎ 다이오드 순방향 특성 실험 회로 실험보고서
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실험을 통하여 교류의 성질부터 이를 필터링 할 수 있는 장치를 만들어 봄으로써 현재 배우고 있는 전기전자공학 과목에 좀 더 쉽게 다가가게 된 계기가 되었다. 1. 오실로스코프의 정의
2. 실험 개요 및 방법
3. RC회로 (Low Pass Filter : 저역
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실험 방법
4.1 Dual Trace Method 에 의한 위상각 측정
① [그림 10]과 같이 회로를 연결한다.
② 과 를 오실로스코프의 CH1과 CH2에 각각 연결한다. 오실로스코프로 시간에 따른 파형을 보기 위해 오실로스코프의 시간축을 10ms/div 또는 위상각을 측정하
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8. 1번, 2번 전원을 더한 파형을 관찰하고 기록하시오.
더한 파형을 보면 7번에서 나온 두 개의 파형을 ADD하는 것으로써 나타내는데 이것은 양의 부분은 양의 부분으로 증폭되고 음의 부분은 음의 부분으로 증폭되서 새로운 파형이 발생하
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회로의 특성에 따라 어느 범위와 온도에서 적당하고 안정하게 동작한다는 것은 실험을 통하지 않았으면 알고 넘어가지 못하였을 것이다.
이번 기회로 트랜지스터의 동작특성을 한 번 더 짚고 넘어 갈 수 있었던 기회
였고 여러 회로들 중에서
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실험에서는 용액의 전도도를 정성적으로 비교만 할 것이므로, 보다 간단하게 직류 전원을 사용하여 장치를 구성한다.
2. 다음의 액체/용액들을 24-well plate의 각 well에 7/10 정도 채운다. :
이소프로판올,
NaCl 수용액 (0.0002 M, 0.001 M, 0.002 M, 0.01 M, 0.2
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