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2. 이상적인 연산 증폭기
3. 실제 연산 증폭기
4. 가상 단락, 가상 접지
5. 반전 증폭기
6. 비반전 증폭기
7. 가산 증폭기
8. 연산 증폭기의 교류동작(슬루현상)
실험 방법
실험 1. 비반전 증폭기
실험 2. 반전 증폭기
시뮬레이션 결과
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. 또한 주파수를 높일수록 슬루현상에 의해 V_out이 작아지는 현상을 관측할 수 있었다.
(2) 반전 증폭기
실험 1과 마찬가지로 R_1, R_f은 1.2kΩ을 사용하였고 1.57V를 가해주었을 때 V_out은 1.68로 측정되었다. 1. 실험 측정치
2. 결과
3. 고찰
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슬루현상이 나타난다. OP-AMP는 여러 트렌지스터의 스테이지로 이루어진 증폭기이다. 이것들은 주로 저주파에서 별 영향을 끼치지 않다가 고주파로 갈수록 회로에 영향을 끼치게 되는데, 어느정도 이상의 주파수에서 사용시 증폭이 아니라 오
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슬루율을 계산한다.
2.3.3 실험 결과
pspice 결과
시간변화량
전압변화량
슬루율
21.5μs
10V
0.465V/μs
시간변화량
전압변화량
슬루율
13.36μs
10V
0.748V/μs
슬루 현상은 증폭기에 높은 주파수가 가해 질 때 일어나는 현상으로 직접 실험해본 결과 PSPICE결
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현상
: 스테핑 모터를 사용할 경우에 어떤 특정한 구동주파수 영역에서 출력 토크의 감쇠, 진 동, 미스스텝 등이 발생할 때가 있다. 이들 현상을 공진 현상이라고 하고, 입력 펄스의 주파수가 모터의 고유진동주파수와 일치되었을 때에 발생한
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