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TEM과 SEM의 비교
전자현미경에는 크게 나누어 투과전자현미경( Transmission Electron Microscope)과 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과 형과 반사형의 차이와 같다고 하겠으며 시료를 준
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1.TEM이란?
투과전자현미경(TEM:transmission electron microcope)은 생물, 의학, 재료 등 거의 모든 자연과학과 기술의 연구에서 필수적인 도구로 활용되고 있는데,
이는 전자현미경의 해상력이 뛰어나서 미시적인 내부구조를 고배율로 확대하여 직
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TEM을 사용할 때 얻어지는 것은 화상(image)과 전자선 회절(electron diffraction)로 크게 나눌 수 있다. 그리고 상을 관찰하는 경우에는 명시야상 또는 암시야상으로 구분할 수가 있다. 위에 TEM의 광로를 나타내는 개략도를 나타내었는데, (a) 는 상을
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빠르게 선택할 수 있도록 고안되어 있다. 형광판 아래에는 카메라가 위치하여 영상은 음화로 기록된다. 음화를 현상, 인화하여 사진으로 만들어 분석하거나 보관한다. 따라서 암실에서의 사진작업도 TEM작업의 일부로 간주된다. 최근에는 TV
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TEM의 경우에는 contrast를 올려야하는 사전 처리가 필요하지만 AFM은 사전처리가 필요 없어서 sample을 보호하며 직접 측정할 수 있다는 장점이 있다.
4. 결론
광학 현미경은 미시 구조를 분석하는 데에 한계가 있지만 간단하며, 전자 현미경은 미
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트를 진행했습니다. 기업체의 요구사항은 주어진 열전 소재의 성능 개선 파악을 위한 나노구조의 분석이었습니다. 이를 위해 TEM, SEM 등 현장의 장비를 활용하여 미세하고 균일한 결정립 크기가 성능 개선에 주원인임을 도출했습니다. 기업에
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정에서 어떤 실험 분석을 주도했으며, 그것이 셀 개발에 어떻게 연결될 수 있나요?
XPS, SEM-EDS, TEM 등 표면 분석과 전기화학 임피던스 분석(EIS)을 연계하여 계면 저항 원인을 분석한 경험이 있습니다. 이를 통해 소재의 미세 구조와 전지 특성 간
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서 오류를 줄이는 데 강점이 있습니다. 특히 민감한 박막 실험에서 정확성을 높이는 데 실질적인 기여를 할 수 있습니다.
5. 입사 후 배우고 싶은 기술이나 장비는 무엇인가요?
ICP, TEM과 같은 고도 분석 장비 활용과 함께, 전해액 조건을 조절
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TEM을 비롯한 고급 분석 기법을 활용한 경험이 있으며, 이를 통해 소재의 미세구조, 화학적 결합 상태, 표면 특성 등을 정밀하게 분석할 수 있는 능력을 키웠습니다. 이러한 분석 기술은 방사광 분석 기술을 활용한 첨단소재 분석에 매우 중요
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TEM), X선 회절분석(XRD), 라만 분광법(Raman Spectroscopy) 등을 활용하여 소재의 구조적 특성을 평가합니다.
전기화학적 분석: 전기화학적 임피던스 분광법(EIS), 순환 전압 전류법(CV) 등을 이용하여 소재의 전기화학적 성능을 측정합니다.
4) 기대 효
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