|
Atomic Force Microscope)
● STM과 AFM
● AFM을 이용한 고분자 연구
● 차원 및 배율
● 압전 세라믹 트랜스듀서
● 힘 센서(Force Sensors)
● 피드백 제어
● AFM의 원리
● Contact AFM
● Non-contact AFM
● 원자현미경으로 이미지의 측정
● 원
|
|
|
Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
[3] Fig.6 Sputter 장비 : HITACHI, Ion Sputter MC1000
https://www.hitachi-hightech.com/kr/product_detail/?pn=em-mc1000&version=ko
[4] Fig.7 원자력현미경(AFM, Atomic Force Microscopy) : ELIM Global, 제
|
|
|
Microscopy)의 탐침(tip)으로 사용되기에 매우 적절한 일차원 구조를 가진다. AFM(Atomic Force Microscopy:원자간력 현미경)은 나노스케일의 대상을 직접 관찰할 수 있는 장비로 마이크로 캔틸레버 팁을 시료 표면에 접근시켜 나타나는 캔틸레버의 정적,
|
|
|
atomic force microscopy)이다. cs-AFM은 AFM 탐침 부분을 금으로 코팅하여 전압-전류 곡선을 측정하여 시료의 전도성을 구할 수 있다. 이것은 AFM(atomic force microscopy)과 STM(scanning tunneling microscopy)의 장점을 모아놓은 것이라고 할 수 있다. 이 방법은 시료
|
|
|
Microscopy, STM)이 최초의 원자현미경이다. 이어 등장한 것이 원자힘현미경(Atomic Force Microscopy, AFM)으로, 현재 가장 널리 쓰이는 원자현미경이다. STM의 텅스텐 바늘 대신 마이크로머시닝으로 제조된 캔틸레버(cantilever)로 불리는 작은 막대를 쓴다.
|
|
 |
Microscopy\".(2007)
14) Academic Press. Whistler, R.L., BeMiller, J.N. and Paschell, E.F.:Organization og satrch granules. In starch chemistry and Technology. (1984)
15) Park HH, Lee KH, Kim SK. Effect of heat-moisture treatments on physico-chemical properties of chestnut starch. Korean J Food Sci
|
|
메뉴펼치기
