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Atomic Force Microscope)
● STM과 AFM
● AFM을 이용한 고분자 연구
● 차원 및 배율
● 압전 세라믹 트랜스듀서
● 힘 센서(Force Sensors)
● 피드백 제어
● AFM의 원리
● Contact AFM
● Non-contact AFM
● 원자현미경으로 이미지의 측정
● 원
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Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
[3] Fig.6 Sputter 장비 : HITACHI, Ion Sputter MC1000
https://www.hitachi-hightech.com/kr/product_detail/?pn=em-mc1000&version=ko
[4] Fig.7 원자력현미경(AFM, Atomic Force Microscopy) : ELIM Global, 제
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광선과 비교하면 물질과의 상호작용이 현저하게 크기 때문에 시료는 아주 1. 현미경의 기원
1) 현미경의 역사
2) 현미경의 용도
2. 현미경 사용법
1) 현미경의 구조
2) 현미경 각부위별 설명
3) 사용방법
4) 주의 사항
5) 초점을 맞추기
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가시광선을 사용하는 보통의 광학현미경보다 해상력(解像力)이 좋다. 자외선은 눈에 보이지 않으므로, 상의 관찰은 사진촬영에 의존하였으나, 오늘날은 형광판(螢光板)을 사용하여 상을 직접 볼 수 있게 개량되어 있다. 자외선의 광원으로서
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Atomic Force Microscope)
4. 현미경의 구조
1) 렌즈
2) 조절 나사
3) 경통
4) 회전판
5) 재물대
6) 조리개
7) 반사경
8) 손잡이
5. 현미경의 사용방법
1) 사용방법
2) 실험 후 고찰방법
6. 현미경의 배율
1) 접안렌즈 배율 * 대물렌즈 배율
2) 저배율
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