Auger Electron Spectroscopy

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	AES(Auger Electron Spectroscopy)의 원리와 구성 Auger Electron Spectroscopy) (1) 기본원리 (2) AES/SAM의 구조 1. Electron Gun 2. Energy Analyzer 3. UHV chamber (10-10 torr) 4. Ion gun (3) AES분석의 종류 1. Auger Image Mapping 2. Auger Spectra 1)정성 분석 2)정량 분석 3. Auger Point Analysis 4. Auger Line Scan 5. 수직분포 분 AES 정성분석, SAM 정량분석, AES(Auger Electron Spectroscopy)의 원리와 구성,	페이지 5페이지 가격 1,000원 등록일 2011.01.25 파일종류 한글(hwp) 참고문헌 있음 최근 2주 판매 이력 없음
	AES(Auger Electron Spectroscopy) A E S Auger Electron Spectroscopy 　AES 란? ╋━━━━━━━━━━─────────… ■ Auger Electron Spectroscopy ■ Auger 전자 분광분석 ■ Auger 전자 현미경 ■ 시편에 가속전자를 쪼아 발생하는 Auger 전자의 에너지 분석 → 시 무지개 물방울, 반사의 법칙 반도체, AES(Auger Electron Spectroscopy),	페이지 9페이지 가격 2,000원 등록일 2012.02.18 파일종류 피피티(ppt) 참고문헌 없음 최근 2주 판매 이력 없음
	재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS) spectroscopy) (1) 기본원리 (2) FTIR의 특성 (3) FTIR의 구성 (4) FTIR에서의 Sampling 기법 5. AES(Auger Electron Spectroscopy) (1) 기본원리 (2) AES/SAM의 구조 (3) AES분석의 종류 (4) 충전효과(charging effect) (5) 주요 적용 범위 (6) 시료 준비 (7) 장점과 단점 6. 조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),	페이지 31페이지 가격 3,000원 등록일 2011.01.24 파일종류 한글(hwp) 참고문헌 있음 최근 2주 판매 이력 없음
	전자현미경의 종류 Auger Electron Spectroscopy) 수백 Å 크기의 Electron beam을 재료의 표면에 입사 방출되는 Auger electron의 에너지를 측정하여 재료표면을 구성하고 있는 원소의 종류 및 양을 분석해내는 표면분석 장비이다. 4. AFM ( Atomic Force Microscope) 요약 일반적으로 현미경 stm, 전자현미경 sims, 전자현미경의 종류,	페이지 12페이지 가격 2,000원 등록일 2008.05.06 파일종류 한글(hwp) 참고문헌 없음 최근 2주 판매 이력 없음
	무기화학실험 - XPS[ESCA]의 원리와 특성, XPS 장치에 대해서 Auger electron spectroscopy에서는 하전 현상 때문에 많은 제안을 받고 있어 절연물질의 분석에서는 XPS가 더욱 유용하다. 6) 유기화합물의 분석 유기화합물의 XPS 스펙트럼을 IR, NMR과 같이 보완하면서 해석하면 많은 정보를 얻을 수 있다. 유기물의 XPS(ESCA)의 원리, XPS 장치, 광전자 스펙트럼, XPS(ESCA)의 원리 XPS 장치, 무기화학실험 - XPS[ESCA]의 원리와 특성, XPS 장치에 대해서,	페이지 9페이지 가격 2,300원 등록일 2013.08.06 파일종류 한글(hwp) 참고문헌 있음 최근 2주 판매 이력 없음

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