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X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(2)시편의 종류에 따른 분석 방법
1. θ-2θ 축으로 주사
1) 다결정 시편
분말시료와 같은 다결정 시편은 시편 표면에 평행한 결정면을 모두 가지고 있기 때
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ion of Diffracted beam
-1면과 2면에 의해서 각각 산란된 X-ray의 경로차가 1/4π일 뿐이라고 가정
-이 두 X-ray는 서로 완전히 상쇄되지는 않음
-그러면 어떠한 경우에 소멸간섭이 일어나는가? 위의 가정 하에서 2면과 3면에 의해서 각 각 산란된 X-ray는
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X-ray란?
2. X-ray의 발생
3. 분석에 이용하는 X-ray는?
1) Continuous spectrum
2) Characteristic spectrum:
(2)Bragg’s Law
1. X-선 회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(E
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X-ray Diffraction)
(1)X-ray 기본원리
1. X-ray란?
2. X-ray의 발생
3. 분석에 이용하는 X-ray는?
(2)Bragg’s Law
1. X-선 회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic C
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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계수기록회로(Electronic circuit panel)
(1) 검출기 : Xe, Kr, Ar 등을 주성분으로 하는 불활성 기체로 충진된 비례계수관(proportional counter)을 사용한다.
(2) 검출기로 입사한 X-선은 파고분석기(PHA)를 통해 필요한 펄스만 선별되 어 계수장치에 계수된다.
X
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