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X선의 회절 현상을 이용한 X R D를 사용하여 시료의 정성을 분석하는 실험 이었다. 분석한 결과 우리 조의 시료는 CaCo3 와 Cu2Fb13 이다.
X R D를 이용하면 재료의 파괴 없이 재료의 결정 구조 분석, 잔류 응력 측정, 결정립의 크기 측정, 우선 배향
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있는 원소의 종류 및 이것들의 비율에 의존
X선 회절에서 사용하는 X선의 파장은 원자와 이온의 크기와 같은
정도이기 때문에 결정에 의해 회절 Ⅰ. X선 역사
Ⅱ. X선 이론
Ⅲ. X선의 종류
Ⅳ. XRD의 구조와 작동과정
Ⅴ. JCPDS카드
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X선(Primary X-Rays) 과 2차X선(Secondary X-Rays)
2) 피폭의 방지
▷X선회절 (X-Ray Diffraction)
1.X선회절현상(X-Ray Diffraction)
2. 결정에 의한 회절(Diffraction)
3. 역격자와 회절(Diffraction)조건
▷X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
1. 구성
2. X선 발생장치(X-
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정가능하고, 분말시료든지 판상, 액체, 리본, thin film시편에 대해서도 측정 가능하다.
2. 물질의 정성분석 가능.물질의 결정구조와 화합형태가 다르면 회절패턴의 형태가 변화한다. 따라서, 표준물질의 데이터 파일과 대조해서(JCPDS card이용) 물
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제어가 가능하면 좋다. 각도 및 강도의 정밀측정을 하기 위해서는 항온 실이 필요하다.
4) 장치의 설명서를 충분히 읽고 사용한다. XRD(X선 회절 분석, X-Ray Diffactometer)
1. 분석 원리
2. XRD 구성
3. 적용 범위
4. XRD의 특징
5. 주의 할 점
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X선 회절분석(XRD), 라만 분광법(Raman Spectroscopy) 등을 활용하여 소재의 구조적 특성을 평가합니다.
전기화학적 분석: 전기화학적 임피던스 분광법(EIS), 순환 전압 전류법(CV) 등을 이용하여 소재의 전기화학적 성능을 측정합니다.
4) 기대 효과 및
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, 고순도 배터리 소재를 제조하기 위한 정제 공정을 실험적으로 검증한 경험이 있습니다.
활용 가능한 연구장비(HW)로는 ICP-OES(유도결합플라즈마 분광법), SEM-EDS(주사전자현미경-에너지분석), XRD(엑스선 회절분석), TGA(열중량분석) 등을 사용하
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