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구할 수 있는데, 이때 회절 peak의 반가폭을 이용한다.
용도로는 결정성 분말, 박막시료의 결정구조 분석 ,결정성 화합물의 결정크기, 결합형태, 배향성 분석 ,결정성 화합물의 온도에 따른 상(phase) 및 구조의 변화 측정 ,금속, 재료의 잔류응력
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X선의 회절 현상을 이용한 X R D를 사용하여 시료의 정성을 분석하는 실험 이었다. 분석한 결과 우리 조의 시료는 CaCo3 와 Cu2Fb13 이다.
X R D를 이용하면 재료의 파괴 없이 재료의 결정 구조 분석, 잔류 응력 측정, 결정립의 크기 측정, 우선 배향
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주기적으로 배열돼 결정성을
가지면 X선 회절무늬의 패턴도 규칙성을 띠게된다.
이를 통해 물질의 조성과 결정 구조를 판단한다. 1. X-선기본원리
2. X-선 회절분석기의 구조
3. X-선 회절분석기의 구성요소- X선원, 시료, 검출기
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분석기 (Pulse Height Analyzer, PHA)
검출기에 들어간 X선(X-Rays)은 완전한 단색이 아니므로, 시료에서 회절(Diffraction)된 특성X선(Characteristic X-Rays) 외에, 연속X선(Continuous X-Rays), 시료로부터의 형광X선(Fluorescence X-Rays) 등 필요없는 X선(X-Rays)도 포함되어
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회절선의 폭을 넓힌다.
4. 입사빔은 완전히 단색이 아니다.
보통 단색이라고 하는 빔은 연속 스펙트럼과 성분이 함께 존재하는 것이다. 또 성분자체도 약 0.001의 폭이 존재하므로 회절선의 폭을 넓힌다.
X선 회절분석기를 통한 상분석을 하였는
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