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X선의 회절 현상을 이용한 X R D를 사용하여 시료의 정성을 분석하는 실험 이었다. 분석한 결과 우리 조의 시료는 CaCo3 와 Cu2Fb13 이다.
X R D를 이용하면 재료의 파괴 없이 재료의 결정 구조 분석, 잔류 응력 측정, 결정립의 크기 측정, 우선 배향
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X선(Primary X-Rays) 과 2차X선(Secondary X-Rays)
2) 피폭의 방지
▷X선회절 (X-Ray Diffraction)
1.X선회절현상(X-Ray Diffraction)
2. 결정에 의한 회절(Diffraction)
3. 역격자와 회절(Diffraction)조건
▷X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
1. 구성
2. X선 발생장치(X-
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주기적으로 배열돼 결정성을
가지면 X선 회절무늬의 패턴도 규칙성을 띠게된다.
이를 통해 물질의 조성과 결정 구조를 판단한다. 1. X-선기본원리
2. X-선 회절분석기의 구조
3. X-선 회절분석기의 구성요소- X선원, 시료, 검출기
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XRD 상분석
X선 회절분석기를 통한 상분석을 하였는데, 불순물 또는 표면의 산화에 따른 2-theta에 따른 intensity값은 달라지는 질 수 있게 되지만 그렇지 않고 ICDD Data와 거의 일치한 값을 보였다. 각각의 성형체에 따른 상이 나타내는 intensity값을
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2.상태도
3.냉각곡선과 상태도의 관계
4.공정형 상태도
5.공정 합금의 조직 및 구역
6.아공정과 과공정
7.x선 회절
본론
가.실험방법
나.실험결과
1.각 조성별 냉각곡선
2. 상태도
3.XRD 상분석
결론
가.실험에 따른 고찰
나.참고문헌
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