반도체 테스트 일반

소개글

반도체 테스트 일반에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1. Purpose of IC Test
2. Electrical Test(E/L) / Final Test Items
3. Test Hardware & Softwafer
4. Test Process Flow
5. Open/Short Test
6. Leakage test
7. IIL/IIH Test
8. VIL/VIH, VOL/VOH Test
9. IDDS
10. DataSheet
11. Functional Test
11-1. DFT(Design for Test)
11-2. SCAN Test
11-3. BIST(Built-in Self Test)
11-4. Boundary SCAN(JTAG)
11-5. NAND Tree Test
12. Backend Process
13. Glossary

본문내용

반도체 테스트의 일반적인 사항과 소프트웨어, 하드웨어에 대한 개론적인 설명 및 반도체 테스트의 테스트 아이템별 세부적인 설명 및 절차와 DFT(Design for Test)에 대한 간략한 설명을 나타내고 있다. 그 외의 테스트 후공정에 사용되는 장비에 대한 설명 및 테스트 전반에 사용되는 용어의 정이에 대하여 정리를 해 놓았다. 반도체 테스트 아이템으로는 특히 DC test와 DFT를 기반으로 하는 function test에 대한 설명 및 테스트 절차에 대하여 설명을 하였고, DC test에서 발생하는 불량의 예에 대한 설명을 첨부 하였다.

키워드

반도체 테스트,   Seminconductor test,   test,   DC test,   AC test,   function test,   DFT,   Design for test