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발생기 (“AWG” Arbitrary Waveform Generator, Agilent 33220A),
디지털 멀티미터(“DMM” Digital Multimeter, LG DM-441B) 각 1 대,
Breadboard, 그리고 길이가 1 미터인 1:1 프로브(probe) 와 10:1 프로브 각각 1 개.
길이가 2 미터인 1:1 프로브 1 개
실험 A : 전원저항의 측
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저항값을 100kΩ일 때 회로가 안정적으로 동작하는 것을 결과 파형을 통해 알 수 있다.
시뮬레이션3은 Basic Free-Running Multivibrator(구형파 발생기)로 주기는 T = 2RC ln(Vsat+Vt / Vsat-Vt)가 된다. 기준전압이 ±(10/10+16) × Vsat으로 커패시터에 RC의 시상수값
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파형발생기 1대
3.2 실험에 사용할 부품
저항 1/2W(100Ω, 47Ω) 각 1개
전해 캐패시터(0.1uF, 0.33uF, 4.7uF) 각 1개
4. 실험방법
(1) 파형의 미분
① <그림 7.3>의 회로를 구성하라. 여기에는 전원전압 Vi(t)로는 파형발생기를 이용하여
진폭이 10Vp-p인
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저항 R, 전기용량 C, 임피던스 Z를 구한다.
c. R-L-C 회로에서의 R, L, C 및 Z 측정
(1) 함수발생기의 전원이 off 되어 있는가를 확인한 후, 교류 전원으로 파형발생기를 사용하여 Bread Board에 저항과 Capacitor Inductor로, 그림 5 처럼 직류 R-L-C 회로를 구성
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저항, 바이어스 전원의 배치에 따라 각각 다른 레벨을 제한할 수 있다. 실험에서 구성했던 회로들 말고도 소자를 다르게 구성했을 때 어떤 파형을 나타낼지 생각해보면 응용에 많이 도움될 것이다. 1. 실험회로
2. 실험결과
3. 결론 및
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