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주기적으로 배열돼 결정성을
가지면 X선 회절무늬의 패턴도 규칙성을 띠게된다.
이를 통해 물질의 조성과 결정 구조를 판단한다. 1. X-선기본원리
2. X-선 회절분석기의 구조
3. X-선 회절분석기의 구성요소- X선원, 시료, 검출기
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(ICP-MS와 보완관계로 이용)
재료, 식품, 생체시료 및 수용액시료 중의 미량원소
무기물중의 미량 희토류 원소의 정량 Ⅰ. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)
Ⅱ. X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
Ⅲ. 유도결합 플라즈마 분광기
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구할 수 있는데, 이때 회절 peak의 반가폭을 이용한다.
용도로는 결정성 분말, 박막시료의 결정구조 분석 ,결정성 화합물의 결정크기, 결합형태, 배향성 분석 ,결정성 화합물의 온도에 따른 상(phase) 및 구조의 변화 측정 ,금속, 재료의 잔류응력
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Pb-Sn 합금을 가로, 세로 1cm, 높이 0.5cm로 준비한다.
※전자선을 금속에 충돌시키는 실험이기 때문에 시편의 수평이 중요하기 때문에 수평을 유지한다. 4조와 같은 경우는 Sand Paper #400을 이용하여 연마 시켰다.
6. x-선 회절분석기를 통한 성분 검
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회절분석기
X-ray를 어떠한 샘플에 투사하면 X선이 산란 및 회절을 하게 되는데 이러한 회절 패턴을 분석하는 것을 말한다. 이를 응용하면 물질의 미세 구조를 보다 정확하게 알 수 있다.
IR 스펙트럼
적외선 분광분석법은 화학분자의 작용기에
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