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실험으로 확인시 각속도 18.526rad/s에서 4.4N으로 측정되었습니다. 오차0.3N으로 오차율 8%정도 발생하였습니다.
이 오차는 force sensor와 실의 연결고리의 balance 차이 및 회전시 force sensor의 연결고리부분의 저항이 작용한 것으로 판단됩니다. 또한
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저항이 최소화 되어있을 때 강한 전류가 흐르게 되어 과부화가 될 수 있는 것을 알게 되었다.
-에 역방향 바이어스를 인가하여야 제대로 측정이 된다. < JFET 특성 >
1. 실험 목적
2. 실험 장비
3. 이론개요
4. 실험순서
5. 실험 결론
6. 토의
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실험에 사용한 도체 종이는 저항이 크기 때문에 이런 현상이 나타나지 않는다.
출처
- 숭실대학교 물리학과 홈페이지
- 연세대학교 물리학과 홈페이지
- 고등학교 참고서 (하이탑, 물리Ⅱ)
- 일반 물리학 실험 (한국 물리학회 발행)
- 네이버
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측정한 내부저항값이 테브낭 저항값이 된다.
4)이렇게 구한 전압값과 저항값이 테브낭등가회로를 구성하는 전압원과 저항값이 되는 것이다.
그 것에 대한 다른 결과는 <표 12-2>와 <표 12-3>의 결과를 통해 확인할 수 있다.
이번 실험의
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ex10 전압 분할 회로(무부하)
ex18 전압 분할 회로(부하)
3-2 ex16 키르히호프 전압법칙
ex17 키르히호프 전류법칙
3-3 ex21 최대 전력 전송
3-5 ex24 중첩의 정리
3-4 ex23 평형 브리지 회로
3-5 ex25 테브난 정리
ex26 노튼의 정리
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실험을 하면서 멀티미터로 값을 측정할 때 같은 회로임에도 불구하고 측정할 때마다 값이 계속 바뀌는 것을 볼 수 있다. 이는 기기와 회로의 정확하지 못한 접촉 때문이라 생각된다. 마지막으로 기기들의 내부저항이다. 즉, DC Power Supply의 내
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저항은 테스트 전원에 의해 유도된 전류에 대한 테스트 전원에 걸린 전압의 비와 같다.
2. 실험 결과
가. 실험1
(1),(2) 단자AB에 대한 Thevenin 전압 VTH와 Thevenin 저항 RTH를 계산/측정하라.
계산된 VTH
:
4 V
계산된 RTH
:
11.33 k
측정된 VTH
:
3.99 V
측정된 R
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실험의 목적은 정지된 열흐름에 관한 이해를 하기 위해서 비교를 통한 측정을 하는 것이다. 실험값과 표준값의 차이는 접촉저항에 따른 온도차를 생각해서 보정하지 않은 값으로는 λ‘a, λ‘b는 ΔTa, ΔTb의 온도사이에 시편의 열전도도가 나
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실험34 : 4단자 회로망
1) 전류치
실험 회로도
시뮬레이션 결과
분석 : 우선 I1이 0.5mA다 될 때의 V1의 값을 찾기 위하여 DC sweep을 통하여 0-5V까지 범위를 가해주어 측정을 하였다. 그래프에서 확인한 값은 2.51V였다.
실험회로도
시뮬레이션 결과
분
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측정장치 사이에서의 열손실의 오차에서 가장 컸으며, 보다 정확한 실험을 위해서는 이 열손실을 줄이는 것이 최대 안건일 것이다. 그리고 실험을 하면서 저항값을 측정하기 위한 시료자체에 부착하는 전선이 높은 온도에 의해 녹으면서 실
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