|
논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
|
|
|
디지털 시스템의 내부조직은 일련의 마이크로연산으로 정의할 수 있다.
용도 1) 특정 목적 디지털 시스템: · 특정 마이크로연산을 영구히 수행한다.
예) 주변기기 제어장치( M/T 제어기)
2) 범용 디지털시스템: · 다양한 마이크로 연산을 수행한
|
|
|
논리 회로적으로 논리곱의 결합 법칙을 설명하면 다음그림과 같다.
분배 법칙
3 변수 논리회로의 분배 법칙은 대수적으로 다음과 같다.
논리 회로적으로 분배 법칙을 설명하면 아래그림과 같다.
논리대수의 기본정리
디지털 논리식을 해석
|
|
|
각각 단지 2-to-1 멀티플렉서와 1-to-2 디멀티플렉서만 중첩 사용해서도 구현이 가능하다.
(a) 8-to-1 멀티플렉서
(b) 1-to-8 디멀티플렉서
2.참고 문헌
-이병기, “디지털 공학실험” p.55-70
7404
7400
7410
74139 1. 실험 관련 이론
2.참고 문헌
|
|
|
디지털 신호로 바꾸어 압축해주는 것이다.
다. 멀티플렉서와 디멀티플렉서의 동작방법과 용도를 설명하라.
- 멀티플렉서는 복수개의 입력선으로부터 필요한 데이터를 선택하여 하나의 출력선으로 내보내는 회로이고 선택기라고도 한다.. 멀
|
|
|
클록의 수가 증가하면 계수의 값이 증가하여 (15)까지 증가하게 된다.
16. 디지털 시스템에 있어서(카운터)는 클록 펄스에 따라 수를 세는 계수 능력을 갖는 논리회로다. 그리고 카운터는 (비트 수)에 의해서 최대 카운트가 결정된다. 01 ~ 16
|
|
|
설계 및 구현
1. 설계개념
최대한 여러 개의 컴포넌트를 따로 구현하여 컴포넌트를 합치면서 설계한다.
컴포넌트로는 7segment , key입력 컴포넌트, piezo컴포넌트 dot matrix컴포넌트, lcd컴포넌트 , 디지털 시계 컴포넌트가 있으며 이들을 전부 합
|
|
|
LED에 불이 들어오지 않았다. 처음에는 회로도를 잘못 구성했으리라 생각했는데 이상이 없었다. 파워서플라이의 문제라고 판단하고 다른 파워서플라이를 이용하여 보았으나 결과는 같았다. 그래서 전압을 올려보았더니 LED에 불이 들어왔다. 6
|
|
|
디지털논리소자 등의 테스트에 쓰이면 유용할 것 같다. 저번 학기때 논리소자들을 실험하면서 피땀흘렸던 것을 생각하면 말이다. 또 오실로스코프를 이용한 미적분회로 실험에서도 삼각파가 유용하게 쓰일 것이다.
Rise time과 Fall time을 구하
|
|
|
논리식을 실험을 통해 확인한다.
2. 실험 이론
① 디지털 논리회로
디지털 논리회로는 조합논리회로와 순서논리회로로 크게 나뉜다. 조합논리회로는 출력이 현재 입력들의 조합에 의해서만 결정되는 논리회로이고, 순서논리회로는 출력
|
|
메뉴펼치기
