|
정 두가지 방법에 대해 알게 되었고, 그중 우리가 실험한 4-Point probe method방법에대해 더 자세히 알게 되었다, 조사를 통해, 면저항의 정의가 얇은 막의 저항 값을 특징짓는 지표로, 흔히 박막의 단위 두께당 비저항으로 표시 된다는 것을 조사
|
- 페이지 2페이지
- 가격 1,300원
- 등록일 2012.04.15
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
실험 결과
시편
크기 (cm)
전압(mV)
두께
전류(mA)
IGO
1×3
422.9
300nm
100
실리콘
1×1
4.281
1mm
100
ITO
1×1
229.5
200nm
100
4-point probe방법
4.실험 방법
실험 A.
1. 휴대용 4 point probe를 이용하여 금속과 반도체의 면저항을 측정한다.
2. 금속과 반도체의 전기적
|
- 페이지 6페이지
- 가격 1,500원
- 등록일 2021.02.04
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
실험 목적
2. 실험 관련 이론
▒ 스퍼터링
▒ ITO
▒ 면저항 측정기
▒ 분광계
분광계의 사용 용도
4. 실험결과
1) 면저항 측정
2) 투과도 측정
5. 결과에 대한 고찰
1) 면저항 측정
2) 투과도 측정
|
- 페이지 5페이지
- 가격 1,400원
- 등록일 2012.05.19
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
3. 실험결과
박막의 종류
박막의 두께
시편의 크기
측정 전류
측정 전압
측정 면저항
계산 면저항(이론값)
2조 IZTO(n-type)
340nm
1.5*1.5
100mA
275.8mV
12.38
12.1
4 point probe의 보정계수는 4.53이고 전류범위는 auto로 설정해 놨는데 이때 전류의 범위를 잘못
|
- 페이지 5페이지
- 가격 1,300원
- 등록일 2014.06.05
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
정 두가지 방법에 대해 알게 되었고, 그중 우리가 실험한 4-Point probe method방법에대해 더 자세히 알게 되었다, 조사를 통해, 면저항의 정의가 얇은 막의 저항 값을 특징짓는 지표로, 흔히 박막의 단위 두께당 비저항으로 표시 된다는 것을 조사
|
- 페이지 2페이지
- 가격 1,300원
- 등록일 2013.07.05
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|