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재료전자기학 - 이후정교수님 강의안 1. 실험 목적
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2. 실험 배경
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3. 실험 이론
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① Si의 특성
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p. 2
② MOS Capacitor
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③ E-Beam의 구조와
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실험 결과로 보아 여기에서 이상적인 막의 두께는 200A로 볼 수 있다. 1.실험 목적
2.이론적 배경
MOS 캐패시터
1) 산화공정
2) CVD 공정
3) Photo 공정
4) PVD 공정)
3. 실험방법
4. 결과 및 고찰
1)C-V 그래프
2)I-V 그래프
3)결론
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전자 (Hongsik jeong) 자료
(2) 인터넷 과학신문 사이언스 타임즈
(3) 서울대 반도체 특강 자료 (삼성전자)
(4) 이화여자 대학교 전자공학과 PRAM PPT 자료
(5) 고광석 (상변화 기술분석)
(6) 상변화 메모리 소자설계용 요소기술 개발에 관한 연구 ( 과학
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실험장비의 오작동과 조작미숙, 실험경험의 부족 등으로 인한 것으로 생각된다. 실험으로 좀더 알게 된 PTC재료의 특성을 이용한 제품들이 일상생활에 많이 사용되고 있으며 전자기기가 급속히 발달함에 따라 사용분야가 확대될 것으로 기대
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넣었을 때 보다 높은 것을 실험을 통해 알 수 있다.
6. 참고문헌
‘현대물리학’ A.Beiser저, 정원모 번역.
‘고체전자공학’, Streetman, Ben G, 喜重堂, 1991.
‘전자재료실험 매뉴얼’. 목적
이론
실험방법
결과 및 토론
결론
참고문헌
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