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전자현미경을 이용한 미세구조 관찰
1.실험목적
2.실험 준비물
3.이론적 배경
3.1 구조-물성-프로세싱의 관계
3.2 주사전자 현미경(Scanning Electron Microscope: SEM)
3.3 주사전자 현미경의 작동원리
4.실험방법
4.1시험편의 준비
4.2 SEM분석
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전자비임이 니켈(z=28)시편의 표면과 직각인 방향으로 20,000V (20kV)로 입사될 때, 상호작용하는 부피를 나타낸 것이다.
이러한 상호작용 및 그 결과가 탐지되고 이미지로서 스크린, CRT, 혹은 필름에 기록된다.
위의 단계들은 전자현미경의 종류
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미세구조를 주사전자 현미경을 통해 관찰함으로써 특정 소재의 구조에 따른 특성을 이해하는데 큰 도움이 되었으며, 이번 실험을 바탕으로 재료를 공부함에 있어서 특정 재료의 미세구조를 파악하는 것의 중요함을 알 수 있었다.
참고문헌
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현미경 제작 및 미세구조의 근접장 특성평가, 연세대학교, 2002
박준도 - 근접장 주사 광학현미경의 제작, 호남대학교, 2007
정해진 외 6명 - 광학현미경, 전자현미경을 이용한 개개 대기입자의 흡습성과 화학 조성 분석, 한국대기환경학회, 2010&nb
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주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)
기술의 진보와 함께 보다 미세 구조의 유기물, 무기물, 금속, 또는 이들의 복합체의 형상과 구조에 대한 보다 정확한 이해가 필요하게 되었다. 주사전자현미경은(SEM)은 고체 상태의 미세조직과 형상을
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