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다. 시료에 조사된 전자가 X-선을 발생시키는 원리는 옆의 그림과 같다. 즉, 원자핵과 특정한 결합에너지로 구속되있는 시료에 임계에너지보다 높은 에너지의 가속전자를 때리면 에너지 준위가 낮은 K각에서부터 전자가 떨어져 나가게 되는데
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distance 와 Depth of focus 와의 관계
사. SE image 와 BSE image의 차이
1) Secondary Electron
2) Back Scattered electro
3) SE image 와 BSE image 의 차이점
3. 실험방법
4. 실험결과
①연성파면
②취성파면
③취성+연성 파면
5. 고찰
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Electron microscopy : 주사전자현미경)
1. 구 조
2. 전자선의 발생 원리
3. SE(Secondary Electron)와 BSE(Backscattered Eletron)의 차이와 장단점
4. 가속전압과 Image와의 관계
5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer), WDS(Wavelengths Dispersive X-ray Spectrometer)
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Knobs into holes packing, Adaptor Hypothesis, protein folding
2. http://www.tbiokem.lth.se/homepage/Kursen/ProtEng/Chapter_3.pdf Linus pauling의 enzyme catalysis에 대한 연구와 sickle-cell anemia에 대한 업적
Francis Crick의 knobs into holes Packing medel과 이것의 중요성
-참고문헌
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SE) 혹은 후방산란전자(Back Scattered Electron, 이하 BSE)를 이용하여 시료의 표면을 관찰하는 장비이다.
주사전자현미경 SEM
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◎ 원 리
투과형과 같이 시료전체에 전자선을 쏘이는게 아니
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