|
SEM(Scanning Electron microscopy : 주사전자현미경)
1. 구 조
2. 전자선의 발생 원리
3. SE(Secondary Electron)와 BSE(Backscattered Eletron)의 차이와 장단점
4. 가속전압과 Image와의 관계
5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer), WDS(Wavelengths Dispersive X-ray Spectrome
|
- 페이지 3페이지
- 가격 400원
- 등록일 2015.08.25
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
SEM에서는 절연체의 관찰에 있어서도 코팅은 필요없다. 특수 X선을 이용한 원소분석 등의 분석용으로 이용하는 SEM에서도 표면 코팅이 필요없이 저진공반사전자법을 선택한다. 표면의 관찰에는 보통 쌍안실체현미경이 사용되지만 배율을 높지
|
- 페이지 9페이지
- 가격 1,000원
- 등록일 2008.07.14
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
rictional Force Microscopy)
표면에서 일어나는 화학적 변화에 의한 탐침위의 측면 힘의 변화 측정
㉡자기력 현미경(Magnetic Force Microscopy)
자성체를 입힌 탐침을 사용하여 시료의 자기적 성질을 알아내는 장치
㉢정전기력 현미경(Electrosatic Force Microscop
|
- 페이지 4페이지
- 가격 1,000원
- 등록일 2008.11.28
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
현미경(SEM)의 활용 및 미래
-생명과학분야: 세포생물학, 조직학, 해부학, 기생충학, 진균학, 미생물학, 기타 미세 구조학
-재료공학: EDS통한 원소분석
-반도체분야: 품질개발 및 제품검사
-기타 품질관리분야: 정도관리
① 육종의 생육단계별
|
- 페이지 38페이지
- 가격 3,000원
- 등록일 2005.06.27
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
SEM이다. 표면을 확인하기 전에 장비를 진공상태로 만들어 주어야하는데 준비하는데 오랜 시간이 걸린다. 하여 사진에 표시한 부분만을 진공상태로 만들어주고 시편을 확인한다.
4. 출처
http://blog.daum.net/aonsystem/2
http://www.chemzine.net/numz/view.php?b
|
- 페이지 4페이지
- 가격 1,300원
- 등록일 2014.06.05
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|