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TEM (Transmission electron microscope: 투과 전자 현미경)
광학현미경의 광원 대신에 광원과 유사한 성질을 지닌 전자선과 렌즈 대신에 전자 렌즈를 사용한 현미경으로서 결상(상맺힘)의 기본원리는 같다. 전자선은 광선과 비교하면 물질과의 상호작용
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현미경( 實體顯微鏡, stereoscopic microscope )
2) 위상차 현미경 (位相差顯微鏡, phase-contrast microscope )
3) 간섭현미경 ( 干涉顯微鏡, interference microscope )
4) 주사형 현미경(Scanning Probe Microscope)
5) TEM (Transmission electron microscope: 투과 전자 현미경)
6) 편
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현미경 용 절편은 슬라이드에 부착시켜 xylene에 담가 파라핀을 제거시키고, 염색한 뒤 봉함제를 떨어뜨린 후 커버글라스로 덮어 영구 프레파라트를 만든다. TEM에서의 박편은 그리드 위에 놓고 전자가 투과할 수 없는 중금속 염색액을 처리한
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현미경(AFM) 활용
17. 주사 전자 현미경(SEM) 분석
18. 투과 전자 현미경(TEM) 기법
Ⅱ. 본론
1. MOS Capacitor 제작 과정 및 비저항 측정
2. 산화 공정의 세부 절차
3. XRD를 통한 구조 분석
4. AFM을 이용한 표면 분석
5. SEM을 통한 미세 구조 관찰
6. 광
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현미경( 實體顯微鏡, stereoscopic microscope )
2) 위상차 현미경 (位相差顯微鏡, phase-contrast microscope )
3) 간섭현미경 ( 干涉顯微鏡, interference microscope )
4) 주사형 현미경(Scanning Probe Microscope)
5) TEM (Transmission electron microscope: 투과 전자 현미경)
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현미경 (Optical microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, transmission electron microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, atomic force microscopy
4. Scattering : 고분자 내부 구조 분석
- Scattering method (산란법)
①
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TEM
transmission electron microscope은 광학현미경과 그 원리가 비슷.
주로 세포나 조직의 내부구조를 관찰하기 위하여 시료를 얇게 잘라서 만든 단면을 전자로 투과한 후 형광판에 상을 만드는 것.
SEM
scanning electron microscope(SEM)은 보다 최근에 개발
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된 전자 파를 이용하여 훨씬 짧은 전자파를 사용하기 때문에 전자현미경을 사용하여 얻은 해상력은 광학적인 것의 100정도인 0.004㎛에 이르게 된다.
1. 투과전자현미경(transmission eletron microscope)
전자파가 표본을 투과하여 나온 전 beam을 몇 개의
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1.전자현미경과 종류
2.x선의 원리및 종류
3.x선으로 결정구조 측정
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혹은 필름에 기록된다.
위의 단계들은 전자현미경의 종류에 관계없이 모두 발생하는데, 세부적인 사항으로서 주사전자현미경과 투과전자현미경에서 차이가 있다. - 전자현미경이란?
- 전자현미경의 기원
- 전자현미경의 작동 원리
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