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현미경(Confocal Laser Scanning Microscope), 전반사(Total Internal Reflection : TIRF)형광현미경, Raman 분광법 등을 조합하여 다양한 AFM을 사용하고 있습니다. 1. What is the AFM??
2. AFM 구조 및 원리
-contact mode
-noncontact mode
-tapping mode
3. 사진 분석요령
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Mode와 같은 해상력을 주면서 시료에는 전혀 손상을 주지 않는다. 아래 그림에 서 Tapping Mode가 시료의 형상을 가장 잘 묘사하고 있음을 알 수 있다.
<그림13. AFM 측정 모드별 장단점①>
액 중 Tapping Mode은 액상에서 시료를 측정할 수 있다는 장
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Mode와 같은 해상력을 주면서 시료에는 전혀 손상을 주지 않는다. 아래 그림에 서 Tapping Mode가 시료의 형상을 가장 잘 묘사하고 있음을 알 수 있다.
<그림13. AFM 측정 모드별 장단점①>
액 중 Tapping Mode은 액상에서 시료를 측정할 수 있다는 장
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보여줌.
-. 분해능은 원자단위의 배열까지 보여줄 정도이며, 전류를 측정하므로 도체나 반도체의 표면에만 측정이 가능함.(단점) 1.STM의 원리 및 분류
2.AFM의 작동원리
2-1 Contact mode
2-2 Non-Contact mode AFM
2-3 Tapping mode AFM
3실험결과
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모드는 시료와 탐침의 원자 사이의 인력(반 데르 발스 힘)를 검출하고, 접촉 모드는 원자 사이의 척력을 검출한다. 접촉 모드는 그 특성상 시료에 손상을 가할 수 있는데, 이러한 한계를 극복한 방식으로 Tapping Mode AFM이 있다. Tapping 모드는 큰
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