선행기술조사 2012 캠퍼스 특허전략 유니버시아드 [선행 기술 조사]

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선행기술조사 2012 캠퍼스 특허전략 유니버시아드 [선행 기술 조사] 에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1. 검토 배경
2. 가상 출원서 작성 과정
3. 선행기술 조사 방법
4. 선행기술
5. 종합적인 검토 의견
6. 참고 특허 문헌 목록 (구성 대비를 한 특허실용은 색깔 표시)

본문내용

대표 청구항
-
(10) Method and apparatus for measuring ice thickness on substrates using backscattering of gamma rays
국가
US
출원 번호
1997-901882
출원인
University of Guelph
요약
The present invention provides a method and apparatus for in situ measuring thicknesses of ice buildup on airfoil. The method and device uses a probe including a high energy radioactive gamma ray source 241Am producing 60 keV photons which penetrate through the airfoil substrate and a photodetector mounted behind the source for detection of backscattered photons. The probe is mounted on the interior of the airfoil and secondary radiation is backscattered within the ice layer and back through the airfoil substrate to the photodetector. The shape and density of the source holder in addition to the geometrical arrangement of the source and detector with respect to the airfoil substrate are used to block photons backscattered in the airfoil substrate thereby favoring scattering in the ice layer over that in the aluminum.
대표 도면
대표 청구항
-
5. 종합적인 검토 의견
- 지금까지 본발명과 관련된 여러 선행 기술들을 조사하고 이를 토대로 특허 가능성을 판단하였다. 방사선을 이용한 두께 측정 센서는 그 기술을 발명하고 다루는 것이 쉽지 않다는 점에서 고도하였다. 종래의 기술과 비교해 보았을 때 본발명의 기술적 수준은 보다 우수하고, 복합적인 기능을 모두 갖추었으므로 신규성이 있다고 판단된다. 특히 정밀하게 두께를 측정할 수 있고, 동시에 측정물의 내부 구조를 파악하고 강도와 밀도를 파악할 수 있도록 설계되었기 때문에 측정하고자 하는 물체에 대한 정보를 다각면에서 유용하게 알 수 있도록 해준다. 따라서 산업상의 이용성이 훌륭하다. 더불어 단일방사선원의 양을 최소화하여 안정성을 향상시켰고 신호처리과정에서도 효율적인 제어부를 구축하였다는 점에서 종래의 기술보다 더 진보되었다고 판단된다. 마지막으로 불특허사유에도 해당 사항이 없기 때문에 본발명은 출원하고 특허로 인정받기에 충분할 것이다.
6. 참고 특허 문헌 목록 (구성 대비를 한 특허실용은 색깔 표시)
번호
출원 번호
발명의 명칭
1
10-1990-0005705
두께/밀도 측정 장치
2
1994-0033452
방사선두께 측정센서를 이용한 강판의 두께
제어장치 및 그 방법
3
10-2006-0090270
용융 몰드플럭스 두께 측정 장치 및 방법
4
10-2002-0082918
강판의 에지부 트래킹을 통한 두께
및 폭 측정장치
5
10-2000-0065719
방사선을 이용한 강판의 두께 측정방법
6
10-2006-0097526
와이어 수집 전극 및 이온 챔버 내 혼합
가압 기체를 이용한, 감도가 향상된
철판 두께 측정용 방사선 센서 및 측정 방법
7
10-2010-0089012
방사선 두께 측정 계
8
10-2000-0080204
스펙트럼 간섭 법을 이용한 막 두께 제어
9
10-2010-0105592
압연강판의 두께 측정 방법
10
10-2007-0126654
CCD 카메라를 이용한 두께 측정 장치
11
20-2000-0025235
강판두께 측정 장치용 교정 장치
12
10-2005-7001106
두께 보정 방법 및 두께 보정 장치
13
10-2002-0010420
다점계측 두께 측정계
14
10-2001-7001784
물질의 두께 측정 방법
15
10-1991-0015294
금속, 특히 강철 스트립의 측면 두께를
측정하기 위한 방법 및 장치
16
10-2006-0110504
강판의 초정밀 두께 측정 장치 및 방법
17
10-2009-0077898
2개 이상의 방사선을 방출하는 방사성동위원소를 이용하는 골밀도 측정방법 및 장치
18
10-2006-0108616
이중 방사선을 이용한 물질의 밀도, 성분,
조성 측정 방법 및 이를 이용한 장치
19
10-2007-0132383
단일 지점 동위원소 방사선원을 이용한
다면적 두께 측정 장치 및 측정 방법
20
20-1995-0019749
방사선 두께 계 표준시편 측정 장치
21
20-1998-0003452
강판의 프로파일 두께 측정 장치
22
10-2010-7015004
내화물 두께 측정 방법 및 그 장치
23
10-1992-0003609
박막 두께 측정 장치
24
2000-561508
Method and device using x-rays to
measure thickness and composition
of thin films
25
1999-233158
Method and apparatus for measuring
thickness of coating layers on substrates
using backscattering of x-rays and
gamma rays
26
1989-368520
Radioactive tracer cement thickness
measurement
27
1997-901882
Method and apparatus for measuring ice
thickness on substrates using
backscattering of gamma rays

키워드

선행기술조사,   2012 캠퍼스 ,   특허전략 유니버시아드 ,   캠퍼스 특허전략 유니버시아드