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전문지식 36건

분석 반도체 Process 및 분석 Cell 내 Overlay Confirm 용 목 차 1. 서론 2. STM (Scanning Tunneling Microscope) 3. SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometer) 4. AEM (Auger Electron Microscope) 5. AFM (Atomic Force Microscope) 6. NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
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/2002 참고 사이트 -http://www.tecsco.net/spm/spm.asp 1. SPM의 역사 2. SPM의 필요배경 3. SPM (Scanning Probe MicroScope)의 의미와 원리 4. STM (Scanning Tunneling MicroScope) 5. AFM(Atomic Force MicroScope) 6. SPM의 종류 7. 타 현미경과 SPM 기술의 비교 8. SPM 응용 분야
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  • 등록일 2004.06.13
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 1.전자현미경과 종류 2.x선의 원리및 종류 3.x선으로 결정구조 측정
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  • 등록일 2005.10.31
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STM(scanning tunneling microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 있다. [그림6] AFM의 구조도 AFM과 STM을 비교해보면 AFM 즉, 원자간력현미경은 주사 터널링 현미경(STM)에서는 전기 도체표면의 원자 상에서 밖에 측정할 수 없었기 때문에 이를 보안하기 위해
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  • 등록일 2013.10.26
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STM(scanning tunneling microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 있다. [그림6] AFM의 구조도 AFM과 STM을 비교해보면 AFM 즉, 원자간력현미경은 주사 터널링 현미경(STM)에서는 전기 도체표면의 원자 상에서 밖에 측정할 수 없었기 때문에 이를 보안하기 위해
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  • 등록일 2013.11.25
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