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반도체 테스트 아이템으로는 특히 DC test와 DFT를 기반으로 하는 function test에 대한 설명 및 테스트 절차에 대하여 설명을 하였고, DC test에서 발생하는 불량의 예에 대한 설명을 첨부 하였다. 1. Purpose of IC Test
2. Electrical Test(E/L) / Final Test Items
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IC를 이용한 위치검출
3.1.2.3.3 헤드 인터럽터를 이용한 위치검출
3.1.2.3.4 자기포화소자에 대한 위치검출
3.1.3 브러시리스 모터의 구조
3.1.3.1 고정자(Stator)
3.1.3.2 회전자(Rotor)
3.1.4 홀-센서(Hall Sensor)
3.1.5 BLDC 모터의 특성
3.1.5.1 토크(Tor
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