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공통 드레인 실험의 경우 측정값과 이론값의 큰 차이가 없어 쉽게 마칠 수 있었지만 공통게이트 실험의 경우 측정값과 이론값에서의 큰 차이를 보이며 실험하는데 크게 어려움을 겪었다. 하지만 오실로스코프의 파형은 실험한 대로 측정이
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같이 증가함에 따라 증가함을 알아볼 수 있었다. 또 이 감소함에 따라서 전압이득이 감소함을 알 수 있는데, 이는 = 으로 의 감소로 인해 값이 작아지고 전압이득은 이기 때문에 전압이득이 감소하였다. 1. 실험결과
2. 검토 및 고찰
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JFET의 값은 매우 작기 때문에 전압이득이 이지만 트랜지스터는 비교적 값이 커서 근사적으로 이 된다.
결과 3-18 공통 게이트 증폭기 1조 A615008 곽해성
실험 목적
N채널 2전원 바이어스된 공통 게이트 JFET 증폭기의 직류 및 교류특성을 조사한
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적으며, 이면 이다. 소스에 출력이 있으므로 입력 전압과 동상이다.
① 전압 이득
② 입력 저항
입력 신호가 Gate에 공급되므로 입력 저항은 CS 증폭기와 같이 매우 높다.
여기에서, 이다. 1. 실험의 이론
2. 실험 결과
3. 결과 분석 및 고찰
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구조
(2) J FET의 특성
(3) J FET의 동작
실험 방법
[실험 1 : 게이트 전압이 0V일 때(Vgs=0V)]
[실험 2 : 게이트와 역바이어스 걸렸을 때]
[실험 3 : 전달 특성]
[실험 4 : 자기 바이어스 공통-소스 증폭기]
사용부품 및 계기
실험 결과
토의
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