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없을 때를 total deep depletion Ⅰ. C-V Introduction
Ⅱ. I-V measurement
1. Introduction
2. Metal-Insulator contacts
3. Image-force effect
4. Conduction mechanism
(1) Electrode-limited current
(2) Bulk-limited current
5. 실제 Data
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bulk current in the insulator
(3) Poole-Frenkel conduction
(4) Hopping conduction
(5) Space charge-limited conduction
V. I-V measurement with HP4145B
1. 측정목적
2. I-V 측정 장비의 구성
2.1 Probe station의 사용법
2.2 측정 장비(HP 4145B )
2.3 Interface computer
V. Reference
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measurement)
0.003(L-measurement)
3.3.5 Internal dc bias
① Voltage range : -35V∼+35V, 10mV step
② Setting accuracy(23 5 C) : 0.5% of setting +5mV
③ Bias control : spot and swept, using front panel controls or HP-IB
3.3 C-V 측정 장비
모델명 4192A LF(5Hz∼13MHz) Impedance Analyzer로 C-V를 측정할 수
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MS contacts C-V analysis
1-1. Non-annealing, 50kHz
C-V data
1/C^2 versus V plot
N-type device
1-2. Non-annealing, 100kHz
C-V data
1/C^2 versus V plot
N-type device
1-3. Non-annealing, 1MHz
C-V data
1/C^2 versus V plot
N-type device
1-4. Non-annealing, 비교/분석
C-V data
1/C^2 versus V plot
2-1. Anne
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contact IR temperature sensor, PZT-PYS ternary system, Poling condition, Oven noise
Table 1 Specifications of Nippon Ceramics specimen
Table 2 Assembling properties of various specimen
Fig. 1 Block diagram of instrument for measuring
dielectric permittivity at various temperature
Fig. 2 Measurement
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