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전자는 결정면에 따라서 채널링을 일으키고, 이 정도는 결정면의 원자 밀집도와 간격 등에 의해서 정해진다. 이 신호를 이용하면 결정 방위와 대칭성, 단위격자 등을 분석할 수 있다.
Referece
주사현미경의 기초/황인옥/반도출판사 3~28P
투과전
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현미경 [phase contrast microscope, 位相差顯微鏡] 암시야현미경 [dark-field microscope, 暗視野顯微鏡] 투과전자현미경 [transmission electron microscope, 透過電子顯微鏡], 980-1100 1991-2020
김성호, 2005.2.25., 식품위생 미 생물학적 실험편, 172
금동화, 2006.12.20 , 나노
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전자(secondrary electrons)를 전자검출기(detector)로 모아서 증폭시킨 것을 브라운관(CRT)에서 화상을 관찰하는 것으로 필요하면 카메라로 촬영한다. 주사전자현미경의 확대율은 투과전자현미경의 것 보다 분해능은 떨어지나 관찰하려는 복잡한 표
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현미경에 비해서 훨씬 높은 배율의 측정이 가능하고, 명암이 있는 입체적인 image를 얻을 수 있다.
①OM의 경우 10배~2000배 (렌즈교환)
②SEM의 경우 10배-30만배 (연속가변)
Referece
◎주사현미경의 기초/황인옥/반도출판사
◎투과전자현미경학 개
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전자학회
김석환(2010), 전기이야기, 대영사
이상혁 외 2 명(2011), 배전압 셀을 이용한 비절연형 고승압 컨버터, 전력전자학회
안영헌 외 13명(2006), 초고전압 투과전자현미경의 원격제어 및 데이터 획득 시스템, 한국현미경학회
조용명(2002), 직류
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시에 주사시켜 한 면(Frame)의 화면을 만든다. 따라서 주사전자현미경에서는 주로 시료표면의 정보를 얻을 수 있고 시료 크기 및 준비에 크게 제약을 받지 않는다.
* 투과전자현미경과 주사전자현미경의 차이점
현재 이 두 종류의 전자현미경은
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현미경
레이저광은 매우강한 집중성이 있어 매우 좁은 주사점을 만든다.
장점 : 매우 얇은 절편(약1m)내의 검체를 영상화할 수 있다.
매우 뚜렷한 영상을 만들어 낸다.
다양한 깊이에서 복합영상을 만들어낼 수 있다.
6. 투과전자현미경
0.5nm의
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전자현미경(SEM)
원리
[원리]SEM 이란 10-3Pa이상의 진공중에 놓여진 시료표면을 1-100nm정도의 미세한
전자선으로 x-y의 이차원방향으로 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차전자, 반사전자,
투과전자, 가시광, 적외선, X선, 내부기전력등의 신호를
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발생 장치의 작동원리
4. 연속 X선 원리
5. 특성 X-선 원리 (형광 X-선)
Ⅱ . X-선의 문화재에 대한 활용
1. X선 투과조사(X-ray Radiography)
2. X선 형광 분석
3. X선 회절분석
4. 주사전자현미경 분석
5. ICP발광분석법
Ⅲ. 결론
Ⅳ. 참고 문헌
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투과전자현미경 측정법(transmission electron microscopy)과 훑기 꿰뚫기 현미경 측정법 (scanning tunneling microscopy ; STM) 과 같은 방법으로 위에서 논의한 결정구조들을 관찰할 수 있다. 이 6원자배열구조의 직젖적인 영상화에서는 이와같은 장비들에 대
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