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X – 선의 기본원리
X-선은 빛처럼 파장이기 때문에 물질의 표면에
부딪히면 산란이 일어나 회절을 일으킨다. 이 때
회절은 모든 방향으로 일어나지만 회절무늬가 간섭을
일으켜 일정한 패턴이 생긴다.
만약물질의 원자가 주기적으로
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회절분석은 원소의 화학적 결합상태 또는 상(phase)의 상태를 조사하는데 유용하므로 광석, 점토, 합금, 부식 생성물 등의 분석에 널리 쓰인다.
4-1. 정성분석
X-선 회절법에 의한 정성분석은 미지물질의 회절 무늬 자료와 알고 있는 물질에 대해
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X-선 회절은 물질의 내부 미세구조를 밝히는데 매우 유용한 수단이며 결정질 화합물을 정성적으로 확인을 하는데 실질적이고 간단한 방법이다. 이것은 X선 회절무늬가 각 결정 물질에 따라 특유하게 다르게 나타나기 때문이다. 그러므로 미지
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회절각을 관찰한 실험결과를 토대로 Bragg 법칙을 사용하여 격자상수를 구하였더니 LiF 는 오차율 2.6% , NaCl 은 오차율 1.9%를 보인다.
7. 결과에 대한 논의
결정구조를 규명하는 방법 중 구조인자에 의해 회절이 일어나는 고유의 Miller indice (h k l)
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X-선에 의해 산란된 x-선 산란파가
간섭현상을 일으키고 이는 특정한 방향으로만 진행하는 현상
증명: 1912년 Von Laue에 의해 실험적으로 증명
※ X-선 회절무늬(Diffraction pattern)는 각 결정 물질에
따라 특유하게 다르게 나타난다. 결정물질 구
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