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회절분석은 원소의 화학적 결합상태 또는 상(phase)의 상태를 조사하는데 유용하므로 광석, 점토, 합금, 부식 생성물 등의 분석에 널리 쓰인다.
4-1. 정성분석
X-선 회절법에 의한 정성분석은 미지물질의 회절 무늬 자료와 알고 있는 물질에 대해
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원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4) 화학적 이동 (Chemical shift)
(5) 정량 분석 (Quantitative an
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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회절무늬가 간섭을
일으켜 일정한 패턴이 생긴다.
만약물질의 원자가 주기적으로 배열돼 결정성을
가지면 X선 회절무늬의 패턴도 규칙성을 띠게된다.
이를 통해 물질의 조성과 결정 구조를 판단한다. 1. X-선기본원리
2. X-선 회절분석
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기본원리
2) 고니오미터(Goniometer)
3) 필터(Filter)
5. 계수 기록 장치
1) 검출기
2) 검출기로 입사한 X-선은……
6. XRD측정
1) 시료 준비 및 유의사항
2) 실험조건
< X-선 회절 분석시 θ-2θ 주사회전축 의 시료에 따른 이해 >
7. 장치 취급상
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회절(Diffraction)조건
▷X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
1. 구성
2. X선 발생장치(X-Ray Generator)
1) Sealed-off X-ray Tube 와 Demountable X-ray Tube
2) 고전압 발생장치(High Voltage Generator)
3) 각종 보안회로
3. 고니오메타(Goniometer)
집중법의 기본원리
4.
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