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분석, 콤팩트디스크,자기디스크나 광자기디 스크등에 쓰인 비트의 모양새 조사등에 쓰이고 있으며 최근 FPD(flat panel display)의 제조공정 분석장비로도 활용된다.
또한 관찰, 측정에 그치지않고 초소형 로봇의 기능도 할 수 있어 Nanolithography, Nan
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전자현미경이 진공상태에서만 가능하다는 것을 감안하면 원자현미경의 응용범위가 대단히 넓다고 할 수 있다. 원자현미경은 관찰, 측정에 그치지 않고 초소형로보트의 기능도 할 수 있어서 나노리소그래피(사진묘사), 나노머시닝(절삭), 나
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법
② 열분석법
③ 유전율 측정
3. miscibility 확인 직접적 방법
① 광학 현미경 (Optical microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, transmission electron microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, atomic force
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법을 바탕으로 최적의 반응비를 구축할 것이며 여러가지 어려움을 하나하나 제거하면서, 이제까지 없었던 새로운 방법으로 만든 효과적인 재료인 나노복합체를 내 손으로 만들어 보려고 노력할 것이다.
2005.06.06 김경철 서론
고분자의
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현미경은 AFM이다.
SPM은 Scanning Probe Microscope의 약자로서 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경을 총칭하는 말이다. 광학현미경의 배율이 최고 수천 배 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십 만 배인데 비해 원자
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법 제시
3. 본론 ; 방법 설명
① 광학 현미경 (OM, Optical Microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, Transmission Electron Microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, Scanning Electron Microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, Atomic Force Microscopy)
4, 결론
5. 참고 문헌
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SEM의 2차전자, 후각 산란전자, X-ray 에 의한 image
4. 결론
1) TEM과 SEM의 비교
전자현미경에는 크게 나누어 투과전자현미경( Transmission Electron Microscope)과 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경
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상호작용
● 투과전자현미경(Transmision Electron Microscopy)
● 광학현미경과 전자현미경의 illumination system의 비교
● 명시야상 (Bright-Field Image)
● 암시야상 (Dark-Field Image)
● 회절패턴 (Diffraction pattern)
● 시편 제작 방법
□ 참고 문헌
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주사전사현미경의 분해능은 25nm로 매우 획기적인 것이었다.
주사전자현미경과 광학현미경의 비교
광학현미경과 주사전자현미경의 가장 큰 차이점은 ‘광원으로 어떠한 것을 사용하는가?’ 하는 것이다.
광학현미경은 빛을 시료면에 조사
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분석법
X-선 회절의 성질
SEM (주사전자현미경・Scanning Electron Microscopy)
이론
TEM (투과전자현미경・Transmission Electron Microscopy)
원리
구조
SEM, TEM 비교
AE(ACOUSTIC EMISSION)
원리
AE 검출법의 장점
활용
EPMA(Electron Probe
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