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of the near-field scanning optical microscopy (NSOM)
2. What is an eNose? Please include, in your explanation, the basic principle and possible applications.
3. Find and read the article about “Millipede” Nanotechnology – The race to the bottom IEEE Spectrum March 2005 (www.spectrum.ieee.org
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Scanning Capacitance Microscope)
10. Nanolithography
11. EC-SPM(Electrochemistry Scanning Probe Microscope)
12. NSOM(Near-Field Scanning Optical Microscopes)
13. AFM의 생물학적 응용
14. 캔틸레버(Cantilevers)
14-1. 캔틸레버의 물리적 특성
14-2. 캔틸레버를 선택하는
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2. 나노 입자의 분석
2.1 SEM & TEM
2.2 AFM (Atomic Force Microscopy)
2.3 STM/STS (Scanning tunneling microscopy)
2.4 NSOM (Near-Field Scanning Optical Microscopy)
2.5 Piezoelectric Microbalance
2.6 Differential Mobility Analyzer
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제시
3. 본론 ; 방법 설명
① 광학 현미경 (OM, Optical Microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, Transmission Electron Microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, Scanning Electron Microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, Atomic Force Microscopy)
4, 결론
5. 참고 문헌
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Near-field Scanning Optical Microscope )
NSOM은 Near-field Scanning Optical Microscope의 약자로 Tip 끝의 약 50nm 정도의 Aperture를 통해 0.05um의 Optical 분해능으로 광학 Image를 볼 수가 있으며, 동시에 AFM의 각종 Image를 함께 볼 수가 있습니다. 이 NSOM 기술은 현재 광
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Optical microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, transmission electron microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, atomic force microscopy
4. Scattering : 고분자 내부 구조 분석
- Scattering method (산란법)
① light scatt
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・Scanning Electron Microscopy)
이론
TEM (투과전자현미경・Transmission Electron Microscopy)
원리
구조
SEM, TEM 비교
AE(ACOUSTIC EMISSION)
원리
AE 검출법의 장점
활용
EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)
원리와 구성
* EPMA의 특징
출처
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optical character
4)X-ray photoelectron spectroscopy(XPS)
-to measure the elemental composition, empirical formula, chemical state and electronic state of the elements that exist within a material.
5)Scanning tunneling microscopy(STM)
-to see the surfaces at the atomic level
reference
1. Growth of L
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