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장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(2)시편의 종류에 따른 분석 방법
1. θ-2θ 축으로 주사
1) 다결정 시편
분말시료와 같은 다결정 시편은 시편 표면에 평행한 결정면을 모두 가지고 있기 때문에 각각
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장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
2. X선에 의한 동정법의 한계
3. ICDD card
4. 색인서(Index book)
2. TGA (ThermoGravimetric Analysis)
(1) 장치 구성
(2) 전
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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ion of Diffracted beam
-1면과 2면에 의해서 각각 산란된 X-ray의 경로차가 1/4π일 뿐이라고 가정
-이 두 X-ray는 서로 완전히 상쇄되지는 않음
-그러면 어떠한 경우에 소멸간섭이 일어나는가? 위의 가정 하에서 2면과 3면에 의해서 각 각 산란된 X-ray는
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시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniometer
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
4)Filter
(4)XRD 실험방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
2. X선에 의한 동정법의 한계
3. ICDD card
4. 색인서(Index book)
Referece
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보듯이 XRD 의 구성은 X-ray를 발생시키는 ‘X-ray Generator’, 회절 된 X-ray를 측정하기 위한 ‘측각기 (Goniometer)’, 이를 전기적 신호로 바꾸어주는 ‘계수 기록장치(Electronic Circuit Panel)’로 이루어져있다.
XRD에는 Bragg`s Law가 가장 기본적으로 사용
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