|
기술되었다. 1. Why Cu interconnect?
2. Benifits of Cu interconnect
3. Cu/Low k interconnect challenges
4. Metallization process comparison
5. Dual Damascene Approaches
6. Major challenges of Cu interconnect
7. Cu Dual Damascene Process Flow
8. Evolution of CMP
9. CMP Tec
|
- 페이지 19페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2010.11.12
- 파일종류 피피티(ppt)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
al-qulb\',\" Tractata Altaica, ed. W. Heissig, Wiesbaden: Otto Harrassowitz, 1976.
Joseph F. Fletcher, edited by Beatrice Forbes Manz, \"Integrative History: Parallels and Interconnections in the Early Modern Period, 1500-1800,\" Studies on Chinese and Islamic Inner Asia, Aldershot, Great Britain ;
|
- 페이지 16페이지
- 가격 2,800원
- 등록일 2013.07.10
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
Al), 티타늄(Ti), 텅스텐(W) 등이 있습니다. 그럼, 실제 금속 배선 공정(Metal Interconnect)은 어떻게 이루어지는지 알아보도록 하겠습니다.
■ 반도체용 금속 배선 재료의 대표주자, 알루미늄(Al)과 텅스텐(W)
대표적인 반도체용 금속 배선 재료인 알루
|
- 페이지 11페이지
- 가격 2,000원
- 등록일 2015.03.13
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
d Wheel)
BLIP : Beam Leaded Interconnected Packing
Bonding Pad : 반도체 Chip(Die)의 내부회로와 외부의 회로를 연결하기 위해 도선(Wire)을 연결하게 되는데, 이때 Chip위의 접착(Bonding) 부위에 Aluminum(Al) 등의 금속 증착 피막을 입힌다. 이 접착 부위를 Bonding Pad리
|
- 페이지 30페이지
- 가격 3,000원
- 등록일 2007.08.28
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|