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목차
** Evaporation **
1. 서 론
2. Deposition Mechanism
3. Thickness measurement
4. Thin film growth process
5. Heating source
6. Deposition of materials
7. Deposition 의 종류
8. Properties of evaporated films
** Sputtering **
1. 서론
2. Gas Discharge의 원리
** CVD (Chemical Vapor Deposition) **
1. CVD (Chemical Vapor Deposition)
3. CVD의 종류
4. CVD Reactor
5. CVD Kinetics
6. LPCVD
7. Si, SiO2, Si3N4 박막형성 공정
8. 저온 CVD 공정
9. PECVD
** Sol-Gel process **
1. Sol-Gel 법의 발전
2. Sol-Gel 법이란
3. Sol-Gel 법의 원료
4. 금속 알콕사이드
5. Sol-gel 반응
6. Si(OR)4의 가수분해 및 중축합 반응
7. Sol-gel 법으로 제작한 코팅막
8. 졸-겔법의 장점 및 단점
9. 졸-겔 과정의 연구에 응용되는 특성분석 방법
10. 세라믹스 박막으로의 응용
1. 서 론
2. Deposition Mechanism
3. Thickness measurement
4. Thin film growth process
5. Heating source
6. Deposition of materials
7. Deposition 의 종류
8. Properties of evaporated films
** Sputtering **
1. 서론
2. Gas Discharge의 원리
** CVD (Chemical Vapor Deposition) **
1. CVD (Chemical Vapor Deposition)
3. CVD의 종류
4. CVD Reactor
5. CVD Kinetics
6. LPCVD
7. Si, SiO2, Si3N4 박막형성 공정
8. 저온 CVD 공정
9. PECVD
** Sol-Gel process **
1. Sol-Gel 법의 발전
2. Sol-Gel 법이란
3. Sol-Gel 법의 원료
4. 금속 알콕사이드
5. Sol-gel 반응
6. Si(OR)4의 가수분해 및 중축합 반응
7. Sol-gel 법으로 제작한 코팅막
8. 졸-겔법의 장점 및 단점
9. 졸-겔 과정의 연구에 응용되는 특성분석 방법
10. 세라믹스 박막으로의 응용
본문내용
1. 서 론
- 1857년 Faraday 개발
- 진공중에서 물질을 가열하여 증발
- 장점 1) 비교적 간단하다( 구성, 물질등)
2) 물성연구에 적합( 핵생성 및 성장, 박막형성의 형태등)
- 단점 1) 접착이 약함
2) Low quality thin film
3) Tm 이 높은 물질 즉 Pt , Ta, Ti, W 등의 증착이 어렵다.
2. Deposition Mechanism
2.1. Hertz -Knudsen Equation
2.2 Mean Free Path ? 평균자유행로
2.3 Variation in deposition rate
to ; thickness at the coated surface directly above or below the source
tx ; thickness of deposition at some distance ,x from the center of the coated surface
h ; distance between source and substrate
3. Thickness measurement, t
source 의 무게 = 4 π r2 * t
4. Thin film growth process
- Species ( Ex:
- 1857년 Faraday 개발
- 진공중에서 물질을 가열하여 증발
- 장점 1) 비교적 간단하다( 구성, 물질등)
2) 물성연구에 적합( 핵생성 및 성장, 박막형성의 형태등)
- 단점 1) 접착이 약함
2) Low quality thin film
3) Tm 이 높은 물질 즉 Pt , Ta, Ti, W 등의 증착이 어렵다.
2. Deposition Mechanism
2.1. Hertz -Knudsen Equation
2.2 Mean Free Path ? 평균자유행로
2.3 Variation in deposition rate
to ; thickness at the coated surface directly above or below the source
tx ; thickness of deposition at some distance ,x from the center of the coated surface
h ; distance between source and substrate
3. Thickness measurement, t
source 의 무게 = 4 π r2 * t
4. Thin film growth process
- Species ( Ex:
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